JSM6701F
為場發射掃描電子顯微鏡(FESEM)，采用冷陰極場發射槍、超高真空和精密的數字技術，可進行顯微結構的高分辨率、高質量成像。本系統裝配錐形場發射槍和semi-in-lens物鏡，可以在任何掃描速度下進行高分辨率的成像以及高質量的實時圖像顯示，使您即使在明亮的房間里也可觀察和記錄清晰的圖像。 JSM6701F
可以處理直徑zui大為8英寸的樣品。