電子背散射衍射系統（EBSD）特點與優勢：數據采集率高達每秒1400個標定點。可在數分鐘內完成分布圖采集，利于高效使用SEM。在整個SEM運行條件范圍內均有優質性能。

      電子背散射衍射系統(EBSD)
 

　　Hikari XP是一款滿足所有EBSD應用的*，為所有EBSD應用提供完整的性能。在Hikari XP出現之前，市場上有兩種：高速和高靈敏，高速和高靈敏不可兼得。帶來的問題是選了高速做不好高靈敏應用，選了高靈敏做不好高速應用。有了Hikari XP，用戶再也不需要在高速和高靈敏度之間選擇了，一款滿足所有應用。當用戶需要大吞吐量的時候，Hikari XP可以高速地收集數據。當用戶做納米分析需要高靈敏度的時候，Hikari XP 同樣提供高標定成功率。Hikari XP與TEAMTM智能軟件相結合，為用戶提供目前市場上較高的標定成功率和良好的數據質量。
 

　　Hikari 系列產品
 

　　Hikari 系列產品包括三個型號，專門為滿足關鍵 EBSD 應用的需求而設計。每一種型號產品都可在各種攝像分辨率使用更高標注速度，從而可在常規樣品和復雜樣品上達到實際采集速度。
 

　　● Hikari Pro –  600 個標注點/秒
 

　　● Hikari Plus –  1000 個標注點/秒
 

　　● Hikari Super –  1400 個標注點/秒
 

　　不再顧此失彼
 

　　其它同類 EBSD 產品要求用戶要么選用低速、高靈敏度成像裝置，要么選用高速成像裝置，可能要求具備相對較高的束流才能有效地工作。EDAX 的 Hikari 系列成像裝置具備優異的靈活性，一種成像裝置即可滿足各種應用需求，用戶無需因性能而做出任何妥協。
 

　　電子背散射衍射系統（EBSD）特點與優勢：
 

　　數據采集率高達每秒1400個標定點。
 

　　可在數分鐘內完成分布圖采集，利于高效使用SEM。
 

　　至大EBSD相機靈敏度
 

　　在整個SEM運行條件范圍內均有優質性能，包括：
 

　　低至100 pA的束流
 

　　低至5 kV的加速電壓
 

　　取向精度值小于0.1°
 

　　對塑性應變、亞晶粒演變和形變機制進行詳細的微觀結構表征，以更好地理解加工-微觀結構-性能之間的關系
 

　　高標定成功率
 

　　EDAX的專業置信度因子不僅能表征標定率，還可表征標定成功率，使您的取向數據具有置信度。
 

　　通過標定相當大比例的數據并避免由不完整的測量引發的假設來更詳細地了解每個樣品
 

　　一體化前置背散射檢測器 (FSD) 用于在執行 EBSD 掃描之前檢查樣品微觀結構。
 

　　提供取向、組成和形貌襯度成像，以便預覽 為EBSD 制備的樣品。
 

　　兼容花樣目標區域分析系統 (PRIAS™) 實時成像。
 

　　高速 Hikari 系列可用作PRIAS™ 實時模式下的成像探測器。
 

　　PRIAS™提供來自預定義的目標區域 (ROI) 探測器的 25 張圖像，通過進行算術方法處理以增強、抑制或隔離特定的圖像襯度。
 

　　PRIAS™ 成像可提供 EBSD 樣品取向、相和形貌襯度的同步成像。
 

　　Hikari 系列是適用于所有 EBSD 應用，集速度、靈敏度和精度于一身，能夠帶來十分出色的性能。這款相機可*兼容 EDAX TEAM™ Trident、TEAM™ Pegasus及 TEAM™ EBSD分析系統，幫助用戶快速、輕松、準確地解決材料難題。