一.概述:
四探針法,可測(cè)微歐到兆歐方阻值量程,采用AD芯片控制,恒流輸出, PC軟件運(yùn)行,自動(dòng)數(shù)據(jù)測(cè)量和系數(shù)修正,直讀方阻,電阻,電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù);中文或英文語言版本;具有屏蔽功能;參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。單晶硅物理測(cè)試方法
FT-3671系列全量程四探針測(cè)試儀
二.適用范圍:
1.導(dǎo)電性新材料、鋁箔、銅箔、鋁涂層、碳纖維材料、電極材料;
2.一般的涂層材料、薄膜、薄片基底材料研究.
3.大學(xué)、研究所、R&D部門對(duì)新材料寬量程電阻率或電導(dǎo)性能研究使用.
三.參數(shù)資料:
規(guī)格型號(hào) | FT-3671A經(jīng)濟(jì)型 | FT-3671B自動(dòng)型 |
1.方塊電阻范圍 | 10^6~2×10^7Ω/□ |
2.電阻率范圍 | 10^7~2×10^8Ω-cm |
3.測(cè)試電流范圍 | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA, 100nA ,10nA , 1nA |
4.電流精度 | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA±0.1% ; 100nA ,10nA , 1nA±2% |
5.電阻精度 | 10^2Ω以下量程≤0.5%; 10^2Ω以上量程≤10%; |
6.PC軟件界面操作 | PC軟件界面顯示:電阻、電阻率、方阻、電導(dǎo)率、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、過程圖譜,報(bào)表生成. |
7.測(cè)試方式 | 手動(dòng)測(cè)量 | 自動(dòng)測(cè)量 |
8.工作電源 | 輸入: AC 220V±10%.50Hz功 耗:<100W |
9.誤差 | 小量程≤4%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果);大量程≤10% |
10.校準(zhǔn)方式 | 標(biāo)準(zhǔn)電阻和標(biāo)準(zhǔn)樣片 |
11.測(cè)試探頭 | 探針間距選購: 2mm;3mm兩種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針、鍍金磷銅半球形針 |