安捷倫4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量速度非常快。此外，在小測試電流（100mA）處優(yōu)良的

Agilent4287A射頻測試儀 

 
主要技術(shù)資料

·儀器指標:
1MHz～3GHz，以100KHz分檔
阻抗測量范圍寬，從200mΩ到3KΩ
在低測度信號電平上具有優(yōu)良的測量重復(fù)性
基本精度為1%
高速測量9ms
Agilent4287A射頻測試儀LCR在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精確，
可靠和快速測量，以改進生產(chǎn)線上對電子元件進行測試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。
與反向測量技術(shù)不同，采用直流電壓測量技術(shù)能在大的阻抗范圍進行精確測量。
·生產(chǎn)率高、質(zhì)量可靠
安捷倫4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量速度非常快。此外，在小測試電流(100mA)處優(yōu)良的

測試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因為所需的取平均過程非常短。
·系統(tǒng)組建簡單
測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點附近，而不會使誤差有任何增大。內(nèi)置比

較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復(fù)雜的倉室適

用于多頻或陣列芯片測試。
·便于使用
8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設(shè)置和結(jié)果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內(nèi)置統(tǒng)計分析功能可

以提供監(jiān)視測試質(zhì)量和效率的過程。可選用的LAN接口有助于統(tǒng)一進行生產(chǎn)監(jiān)控。此外，若干APC-7，SMD測試夾具可以與