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大量程激光粒度儀 Analysette 22 NanoTec Plus

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德國Fritsch公司是實驗室樣品預處理和顆粒度分析的專家。

Fritsch公司的A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度儀,采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進行樣品顆粒度的檢測。低檢測下限可達0.08µm ,在同類產品中都處于地位。
大量程激光粒度儀A22的推出,可以*替代之前Fritsch公司所生產的緊湊型、微米型、大量程微米型激光粒度儀,讓您一次使用中可以同時獲得過去三臺機器的全部功效,使用更加便捷。

技術參數

1. 分析方法:激光散射/激光衍射
2. 濕法測量范圍:0.01 - 2000 µm
3. 測量時間:5-10 s(單一測量時測量值記錄);2 min(整個測量循環)
4. 分析樣品回路體積:300-500ml,可調節容積, 可調速徑向泵
5. 測量周期:2min
6. 光學排列:反傅立葉設計,活動的測量元件(FRITSCH
7. 測量通道:165
8. 測量結果的重現性:≤0.5%
9. 光源:波長532nm 2束、波長940 nm 1
10. 雙激光三束設計:綠光、紅色雙激光測量光束,綠色激光束背向補償
11.傅里葉透鏡:260mm560mm焦距(綠光或紅外線)
12.軟件:采用FRITSCH MaS控制軟件,用于控制,記錄和評估測量結果
13.符合ISO13320標準
主要特點
1. 大量程激光粒度儀A22 MicroTec Plus,可*替代以前的緊湊型、微米型、大量程微米型激光粒度儀
2. 雙激光三束設計: 綠光2(532nm), 紅色激光1束 (940nm)
3. *的曲光系統
4. 雙測量位置
5. 測量時間10 sec.
6. 高效的自動光束測量陣列
7. 測量系統和濕法分散系統獨立分開
8. 適用于在水相及大多數有機相(例如異丙醇) 中使用
9.可調節容積, 通過電腦可實現選擇:300、400、500ml
10.測量單元使用 Cardridge-like 設計 -> 易于轉換改變
11.可調節的超聲波探頭
12.無須使用攪拌器


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