E4991A 射頻阻抗材料分析提供極限阻抗測量性能和功能強大的內置分析功能。它將為元器件和電路設計人員測量 3 GHz 以內的元器件提供創新功能，幫助他們進行研發工作。

 E4991A阻抗分析儀

E4991A 射頻阻抗材料分析儀 介電磁性材料測量（選件 E4991A-002）

主要特性與技術指標

基本精度

基本精度 +-0.8%

掃描參數

頻率：1 MHz 至 3 GHz

振蕩器電平：高達 1 dBm0.5 Vrms10 mArms

DC 偏置電平（選件 E4991A-001）：+- 40V 或 +- 50 mA

更多特性

Windows 風格的用戶界面

內置 VBA 編程功能

通過 LAN 接口進行數據傳輸

多功能測量選件

介電磁性材料測量（選件 E4991A-002）

可靠的晶圓測量（選件 E4991A-010）

溫度特性測量（選件 E4991A-007）

描述

E4991A 射頻阻抗材料分析提供極限阻抗測量性能和功能強大的內置分析功能。它將為元器件和電路設計人員測量 3 GHz 以內的元器件提供創新功能，幫助他們進行研發工作。與反射測量技術不同，E4991A 使用射頻電流–電壓（RF-IV）技術，可在廣泛的阻抗范圍內提供更精確的阻抗測量結果。基本阻抗精度是 +-0.8%。高 Q 精度有利于進行低功耗元器件分析。內置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的掃描范圍和 1 mHz的分辨率。

材料評估

E4991A 提供完整的介電磁性材料測量解決方案，涵蓋 1 MHz 至 1 GHz的寬頻率范圍。

晶圓測量

借助E4991A-010 探針臺連接套件，您可輕松地地將 Keysight E4991A 連接到射頻探頭系統（由 Cascade Microtech 提供）上進行晶圓測量。