SOC750-MW系列是一款快速、實時的MWIR高光譜成像系統。可以 用于機器視覺、精準農業 、生物醫藥 、國防安全 、遙感科學等研究工作。
基于高速HgCdTe/MCT或InSb焦平面陣列探測器、高速掃描系統、高質量的成像光譜儀、以及功能強勁的標定和分析軟件HSAnalysis，SOC750-MW可以在2-5μm范圍內以27Cubes/s的速度進行高光譜圖像測量，光譜分辨率為48～73nm。所測數據可以由第三方軟件讀取及分析。
SOC750成像光譜儀包括實時高光譜成像處理器，采用的SOC公司專有的高性能HSAnalysis3軟件，軟件具有圖形用戶友好界面。
技術指標
型號 | SOC750-HB | SOC750-HR |
主要特點 | 高亮度 | 高分辨率 |
檢測器 | 銻化銦(InSb) | 銻化銦(InSb) |
空間像素 | 256*240 | 512*512 |
光譜范圍 | 2-5µm | 2-5µm |
光譜通道 | 42 | 64 |
光譜帶寬 | 0.073µm | 0.048µm |
測量速度 | 11c/s@256×240×42 30c/s@160×144×42 | 2c/s@512×512×64 24c/s@128×146×64 |
FPA阱容 | 20Me? | 5Me? |
探測器像距 | 30µm | 20µm |
IFOV@50mm | 0.6mr | 0.4mr |
測量溫度 | 1250°C | 1100°C |
產地：美國
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