? 產(chǎn)品簡介：
REAL RTP200型快速退火爐是韓國ULTECH公司的一款8寸片快速退火爐，采用革新的加熱技術(shù)，可實現(xiàn)真正的基底溫度測量，不需要采用傳統(tǒng)快速退火爐的溫度補償，溫度控制精確，溫度重復(fù)性高，客戶包括上許多半導(dǎo)體公司及科研團隊，是半導(dǎo)體制程退火工藝的理想選擇。
? 技術(shù)特色：
? 真正的基片溫度測量，無需傳統(tǒng)的溫度補償
? 紅外鹵素管燈加熱
? 極其優(yōu)異的加熱溫度精確性與均勻性
? 快速數(shù)字PID溫度控制
? 不銹鋼冷壁真空腔室
? 系統(tǒng)穩(wěn)定性好
? 結(jié)構(gòu)緊湊，小型桌面系統(tǒng)
? 帶觸摸屏的PC控制
? 兼容常壓和真空環(huán)境，真空度標準值為5×10-3Torr，采用二級分子泵真空度低至5×10-6Torr
? 3路氣體（MFC控制）
? 沒有交叉污染，沒有金屬污染
? 真實基底溫度測量技術(shù)介紹：
如上圖，由陣列式鹵素燈輻射出熱量經(jīng)過石英窗口到達樣品表面，樣品被加熱，傳統(tǒng)的快速退火爐采用熱電偶進行測量基片溫度，由于熱電偶與基片有一定距離，測量的不是基片真實的溫度，必須進行溫度補償。
REAL RTP200型快速退火爐采用的一根片狀的Real T/C KIT進行測溫，如上圖，接觸測溫儀與片狀Real T/C KIT相連，工作時片狀Real T/C KIT位于樣品上方很近的位置，陣列式鹵素燈輻射出熱量經(jīng)過石英窗口到達樣品表面，樣品被加熱，片狀Real T/C KIT同時被加熱，由于基片與Real T/C KIT很近，它們之間也會進行熱量傳遞，并很快達到熱平衡，所以片狀Real T/C KIT測量的溫度就無限接近基片真實的溫度，從而實現(xiàn)基片溫度的真實測量。
? 主要技術(shù)參數(shù)：
? 基片尺寸：8英寸
? 基片基座：石英針（可選配SiC涂層石墨基座）
? 溫度范圍：150-1250℃
? 加熱速率：10-150℃/S
? 溫度均勻性：≤±1.5% (@800℃, Silicon wafer)
≤±1.0% (@800℃, Substrate on SiC coated graphite susceptor)
? 溫度控制精度：≤ ±3℃
? 溫度重復(fù)性：≤ ±3℃
? 真空度：5.0E-3 Torr / 5.0E-6 Torr
? 氣路供應(yīng)：標準1路N2吹掃及冷卻氣路，由MFC控制（多可選3路）
? 退火持續(xù)時間：≥35min@1250℃
? 溫度控制：快速數(shù)字PID控制
? 尺寸：1300mm*820mm*1300mm
? 基片類型：
? Silicon wafers硅片
? Compound semiconductor wafers化合物半導(dǎo)體基片
? GaN/Sapphire wafers for LEDs 用于LED的GaN/藍寶石基片
? Silicon carbide wafers碳化硅基片
? Poly silicon wafers for solar cells用于太陽能電池的多晶硅基片
? Glass substrates玻璃基片
? Metals金屬
? Polymers聚合物
? Graphite and silicon carbide susceptors石墨和鍍碳化硅的石墨基座
? 應(yīng)用領(lǐng)域：
離子注入/接觸退火，快速熱處理(RTP)，快速退火(RTA)，快速熱氧化(RTO)，快速熱氮化(RTN)，可在真空、惰性氣氛、氧氣、氫氣、混合氣等不同環(huán)境下使用，SiAu, SiAl, SiMo合金化，低介電材料，晶體化，致密化，太陽能電池片鍵合等。
