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PLS Plus激光微地貌掃描儀

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PLS Plus激光微地貌掃描儀基于三角測量原理測量地表微地貌高程,采用激光掃描獲取各點高程,測量精度可以達到亞毫米級,測量過程無需接觸土壤表面,解決了測針法對土表擾動的弊端,測量結果更可靠,能準確反映地表微地貌的細微變化。

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用途:PLS Plus激光微地貌掃描儀基于三角測量原理測量地表微地貌高程,采用激光掃描獲取各點高程,測量精度可以達到亞毫米級,測量過程無需接觸土壤表面,解決了測針法對土表擾動的弊端,測量結果更可靠,能準確反映地表微地貌的細微變化。

 

原理及應用:利用線性激光的反射與CCD成像原理,將地表形態轉換成不同物象點位置的電信號,再經計算機軟件處理成數字高程模型(DEM),進而評價土壤侵蝕程度或進行相關機理研究。相對于PLS代產品,掃描速度更快,精度更高,采用筆記本電腦采集數據,野外使用更加方便。

PLS Plus激光微地貌掃描儀

 

 

應用領域:

■土表微地貌特征評價指標篩選與算法實現

■連續降雨過程中土表微地貌特征演變

■不同粗糙度土表粗糙度模型建立

■不同坡度剖面侵蝕及侵蝕泥沙分布

實測圖:

PLS Plus激光微地貌掃描儀PLS Plus激光微地貌掃描儀

 

技術參數:

■剖面分辨率:0.5 mm

■垂直分辨率:0.1 mm

■測量寬度:60 cm

■測量長度:大3 m

■每分鐘可掃描大于400個剖面

■實驗室和野外都可使用

■沒有土壤類型限制

■數據為XYZ 高程或矩陣數據

 

儀器配置:

主系統:

■3米移動滑軌(長度可按要求定制)

■激光器發射器

■CCD照相機及鏡頭

■筆記本電腦(可選野外筆記本電腦)

■系統控制箱

■野外使用可選蓄電池或交流電供電(需訂購時說明)

移動框架:

■鋁合金框架

■4個萬向輪

■4個水平調整器

■掃描儀固定裝置

 

產地:美國

 


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