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激光粒度分析儀( LT2200)

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LT2200加持了真理光學的衍射愛里斑反常變化(ACAD)的補償修正技術的使用,使用戶無需選擇分析模式,即可在全粒徑范圍獲得準確可靠的粒度結果;LT2200系列粒度儀還采用了真理光學的高速全息信號處理技術,測量速度可達每秒20000次,確保不漏檢任何粒徑和形狀的顆粒; LT2200系列粒度儀的粒徑范圍為0.02um-2200um, 適用于制藥,電池材料,地質,水文,化工和磨料等諸多行業的顆粒粒度分析。

詳細信息 在線詢價

真理光學技術團隊具有超過二十年的粒度表征及應用開發的經驗,在享有很高的聲譽。LT2200是真理光學基于多年的科研成果開發的新一代超高速智能激光粒度分析系統,其多項技術性能和指標均超過當前激光粒度儀的水平,成為當今粒度儀市場具有*性價比的產品。

 

 

 

LT2200加持了以下多項創新和技術:

 

◆ 偏振濾波技術

◆ 衍射愛里斑反常變化(ACAD)的補償修正技術

◆ 斜入射反傅里葉光路配置

◆ 格柵式大角度檢測陣列技術

◆ 粒度分析模式優化及自適應技術

◆ 連續液位感知及控制技術

◆ 高靈敏度光能跟蹤及穩定技術

 

LT2200光學測量系統的性能還包括:

◆ *符合ISO13320衍射法測量技術標準

◆ *的光路配置,超大連續的物理測量角度
◆ 改進型反演算法,用戶無需選擇“分析模式”,兼顧*的分辨率和穩定性
◆ 無需更換透鏡,無需使用標準樣校準,量程范圍達到0.02微米至2200微米
◆ 采用全息信號同步處理技術,實時測量速度達每秒20000次,不漏檢任何形狀和分布顆粒的衍射信息
◆ 采用自動溫度恒定技術的超高穩定固體激光光源系統,*克服了氦氖氣體激光器預熱時間長,使用壽命短的缺點
◆ 采用偏振空間濾波技術,*摒棄導致機械和熱穩定性差的針孔濾波器

項目指標
測量原理激光衍射
光學模型全量程米氏理論及夫朗霍夫理論可選
粒徑范圍0.02μm-2200μm,無需更換透鏡,不依賴標樣校準
檢測系統包含格柵式超大角度,非均勻交叉面積補償檢測器陣列及高靈敏度后向散射檢測單元
測量池平行斜置
光源集成恒溫系統的638nm,20mW固體激光器
空間濾波方式非針孔式偏振濾波技術
光學對中系統智能全自動
測量時間典型值小于10秒
測量速度可達20000次/秒
準確度Dv50優于±0.6% (NIST可溯源乳膠標樣)
重復性Dv50優于±0.5% (NIST可溯源乳膠標樣)
激光安全1類激光產品
計算機配置In i5處理器,4GB內存,250GB硬盤,鼠標,鍵盤和寬屏顯示器
計算機接口USB2.0或以上
軟件運行平臺Windows7或以上專業版
操作環境溫度5℃-40℃
操作環境濕度10%-85%相對濕度(無結凝)
電源要求交流220V,50Hz-60Hz,標準接地
光學系統重量31kg
光學系統尺寸670mm x 275mm x 320mm

 


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