牛津儀器 電子背散射衍射（EBSD）探測器C-Nano是一種多功能、高效的EBSD探測器。利用Symmetry探測器的創新技術，為C-Nano這一入門級探測器提供了出色的性能。C-Nano適用于表征各種類型的樣品，它的高像素分辨率使其非常適合于精細的應變分析以及復雜和具有挑戰性材料的常規分析。
牛津儀器 電子背散射衍射（EBSD）探測器C-Nano是一款適用于各種材料和應用的EBSD探測器。利用專門定制的CMOS傳感器，C-Nano采集速度可達400點/秒，并能得到理想的312x256像素分辨率的花樣：這比同類型的基于CCD的探測器采集速度快3倍，得到至少4倍像素的花樣。C-Nano值得讓您信任的性能，使其即使在更具挑戰性的材料上，也能提供出色數據質量。
C-Nano的光學設計確保了*的靈敏度和子像素失真級別，使其成為需要優良、高清花樣的精細的應變分析的理想探測器。C-Nano的靈敏度確保在使用非常低的束流（在3nA以下）時也能達到的分析速度，從而能夠對電子束敏感材料和納米晶材料進行詳細和成功的分析。
C-Nano還得益于整個牛津儀器CMOS探測器系列的新設計功能，包括可避免潛在、昂貴代價的碰撞發生的接近傳感器。C-Nano是一個您可以一直信賴使用的探測器。
牛津儀器 電子背散射衍射（EBSD）探測器C-Nano特點
C-Nano探測器是高性能CMOS技術的入門選項：
- 保證在3nA束流條件下，實現400pps的標定速度
- 速度下采集312x256像素的花樣分辨率——是同等速度下高分辨CCD探測器的4倍
- EBSD百萬像素全分辨率花樣(1244x1024像素)——高分辨率EBSD應變分析的理想選擇
- 低失真光學器件, 確保角度精度優于0.05°
- 優化的高靈敏度熒光屏, 確保低劑量和低束流能量下的高質量的花樣——增大空間分辨率
- 即使在速度下也能實現無縫的EDS集成
- 波紋管SEM接口，保持SEM真空完整性
- *的接近傳感器——在可能發生的碰撞發生之前自動將探測器移動到安全位置
- 簡單直觀的探測器設置，確保每次都能獲得滿意效果
- 五個集成的前置探測器, 提供全彩色通道襯度圖像和原子序數襯度圖像
電子背散射衍射（EBSD）是一種基于掃描電子顯微鏡（SEM)），提供樣品顯微結構晶體學信息的技術。在EBSD中，電子束與傾斜的晶態樣品相互作用，形成衍射花樣。衍射花樣可以通過熒光屏探測到，它具有所產生處樣品的晶體結構和取向特征。因此，衍射花樣可用來確定晶體結構及取向、區分晶體上不同的相、表征晶界、和提供有關局部結晶完整性的信息。
EBSD已成為SEM中的一個出色的附件，常用來提供晶體學信息。EBSD廣泛地應用于許多不同的領域，以幫助材料表征，如下表所示。
AZtec EBSD系統結合了EBSD（ Symmetry ）的速度和靈敏度以及 AZtecHKL軟件出色的分析性能，為電子背散射衍射（EBSD）和透射菊池衍射（TKD）分析提供了一種功能強大、用途廣泛的工具。
| 行業 | 材料 | 典型的EBSD測量 |
| 金屬研究和加工 | 金屬，合金 | 晶粒尺寸 |
| 航天 | 金屬間化合物 | 晶界表征 |
| 汽車 | 夾雜物/沉淀物/第二相 | 體織構 |
| 核能 | 陶瓷 | 局部織構 |
| 微電子 | 薄膜 | CSL晶界表征 |
| 地球科學 | 太陽能電池 | 再結晶或形變率 |
| 科研領域 | 地質 | 亞結構分析 |
| | 半導體 | 相鑒定 |
| | 超導體 | 相分數和相分布 |
| | 冰 | 相變 |
| | 金屬和陶瓷復合材料 | 斷口分析 |
| | 骨頭，牙齒 | 晶粒和相間的取向與取向差關系 |
