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BOS-18020748537 顯微顆粒圖像分析儀

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BOS-T180顯微顆粒圖像分析儀是國(guó)內(nèi)蕞心一代靜態(tài)顆粒圖像分析設(shè)備,它采用蕞心的圖像采集系統(tǒng)與分析軟件,將計(jì)算機(jī)圖像學(xué)與顆粒粒度及粒形分析理論玩美結(jié)合,在獲得清晰的顆粒圖像的同時(shí),將顆粒的粒度、球型度、長(zhǎng)徑比、龐大率、表面率等相關(guān)顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來(lái),使用戶(hù)可以詳細(xì)的了解顆粒。

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一、顯微顆粒圖像分析儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介

BOS-T180是國(guó)內(nèi)蕞心一代靜態(tài)顆粒圖像分析設(shè)備,它采用蕞心的圖像采集系統(tǒng)與分析軟件,將計(jì)算機(jī)圖像學(xué)與顆粒粒度及粒形分析理論玩美結(jié)合,在獲得清晰的顆粒圖像的同時(shí),將顆粒的粒度、球型度、長(zhǎng)徑比、龐大率、表面率等相關(guān)顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來(lái),使用戶(hù)可以詳細(xì)的了解顆粒。此外,該款儀器還賦予了自動(dòng)化、智能化能時(shí)代性的標(biāo)志、使其操作更簡(jiǎn)便、分析更智能、結(jié)果更穩(wěn)定,是顆粒粒度測(cè)試及粒形分析的手選搭檔和得力助手。
二、顯微顆粒圖像分析儀性能特點(diǎn)
直觀反映顆粒形貌 將顆粒的表面形貌直接反映到計(jì)算機(jī)屏幕,用戶(hù)可以直觀且荃面了解顆粒的表面及形狀屬性;
玩美拼接多幅圖像 將選取不同視場(chǎng)拍攝的多幅顆粒圖像拼接成一幅,使參與分析的顆粒數(shù)量更多,測(cè)試結(jié)果更具代表性;
自動(dòng)分割粘連顆粒 采用更*的顆粒識(shí)別算法,對(duì)各種形狀的粘連顆粒都能自動(dòng)分割,顯著提高粘連顆粒分割準(zhǔn)確率,減少人為參與,有效縮短圖像處理時(shí)間;
自適應(yīng)二值化功能 采用一種自適應(yīng)二值化功能,使其進(jìn)行圖像二值化處理時(shí)不受拍攝光線的影響,避免了因光線不均勻等因素而導(dǎo)致顆粒信息丟失的情況,為后續(xù)處理的精準(zhǔn)度奠定基礎(chǔ);


自動(dòng)處理顆粒圖像 顆粒圖像分析軟件含有自動(dòng)處理工具集,集成了二值化、肖除邊界不完整顆粒、肖除雜點(diǎn)、填充空洞、平滑邊緣、分割粘連顆粒、計(jì)算顆粒參數(shù)等功能的自動(dòng)操作,一鍵即可完成顆粒圖像處理到分析結(jié)果的生成等全部過(guò)程,操作簡(jiǎn)便且結(jié)果可靠;
自由切換粒徑單位 標(biāo)尺選取支持多種長(zhǎng)度單位、可在納米、微米和毫米之間自由切換,便于用戶(hù)對(duì)通過(guò)電鏡等其他方式獲取的顆粒圖片實(shí)現(xiàn)進(jìn)一步處理;
快速處理特殊形狀顆粒 對(duì)于球形顆粒,采用讀特的處理算法,對(duì)原始圖片無(wú)需進(jìn)行任何處理而直接分析顆粒粒徑信息,即使顆粒顆粒之間相互粘連或重疊也不會(huì)影響分析結(jié)果,提高球形顆粒的分析效率。

三、適用范圍:
    BOS-T180靜態(tài)顆粒圖像儀適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、樹(shù)脂、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農(nóng)藥、榨藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè)。
四、技術(shù)參數(shù)

規(guī)格型號(hào)

BOS-T180

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

ISO13322-1:   2004; GB/T21649.1-2008

顯微系統(tǒng)

物鏡

4X、10X、40X、60X、100X(油)長(zhǎng)距消色差(平場(chǎng))物鏡組

目鏡

1X、10X、16X 大視野攝像目鏡

載物臺(tái)

手動(dòng)三維機(jī)械式載物臺(tái),尺寸:185mm×140mm,

移動(dòng)范圍:50mm×75mm,粗微同軸調(diào)焦,

微動(dòng)格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置

光源

底部透射光源,6V 20W鹵素?zé)?亮度可調(diào)。可選頂部金相落射式光源(帶起偏振器)

總放大倍數(shù)

4倍——1600倍

攝像系統(tǒng)

蕞高分辨率

2048×1536

像素尺寸

3.2μm×3.2μm

成像元件

1/1.8英寸 progress scan CMOS

幀率

6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480

蕞高清晰度

900線

信噪比

小于42dB

敏感度

1.0V@550nm/lux/S

輸出方式

USB2.0

實(shí)際觀測(cè)范圍

1-6000μm

軟件功能

靜態(tài)采集

將樣品形貌拍攝為高清晰JPG圖片


圖片處理

使用多種畫(huà)圖工具對(duì)圖片進(jìn)行比較簡(jiǎn)單的處理


圖像拼接

將多幅圖片進(jìn)行無(wú)縫拼接,在顆粒測(cè)試中能夠獲得更多的顆粒數(shù)量以提高測(cè)試的代表性。同時(shí)也可單張分析保存后再進(jìn)行拼接,進(jìn)一步提高了結(jié)果的準(zhǔn)確性。

顆粒的自動(dòng)處理工具集

自動(dòng)肖除顆粒粘連、自動(dòng)肖除雜點(diǎn)、自動(dòng)肖除邊界不完整顆粒、自動(dòng)*顆粒的空心區(qū)域、自動(dòng)平滑顆粒邊緣等12項(xiàng)自動(dòng)處理工具。


比例尺標(biāo)定

通過(guò)幗家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)微尺標(biāo)定后,每次測(cè)試只須選擇與物鏡相對(duì)應(yīng)的比例尺數(shù)值即可直接得到顆粒的實(shí)際大小數(shù)值。


單個(gè)顆粒數(shù)據(jù)

可在圖片上直接對(duì)單個(gè)顆粒進(jìn)行截面積、體積、長(zhǎng)徑比等10多項(xiàng)參數(shù)的分析。

任務(wù)管理機(jī)制

嚴(yán)格的任務(wù)管理機(jī)制,使用戶(hù)能夠?qū)⑺袦y(cè)試數(shù)據(jù)井井有條的管理起來(lái)。

報(bào)告輸出

將測(cè)試結(jié)果輸出為報(bào)告,并可以自由修改報(bào)告樣式。

整體分布特征參數(shù)

D10、D50(中位徑)、D90、D100等顆粒分布的特征參數(shù)

報(bào)告參數(shù)

整體頻率分布累計(jì)分布

顆粒按數(shù)量、體積、面積等分布的頻率分布與累計(jì)分布的數(shù)據(jù)表、曲線圖、柱狀圖等。

統(tǒng)計(jì)平均徑

Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統(tǒng)計(jì)平均徑

形狀參數(shù)

長(zhǎng)徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面積、外接矩形參數(shù)等表征顆粒形狀的10多項(xiàng)常用數(shù)據(jù)

個(gè)數(shù)統(tǒng)計(jì)

直接得到所觀測(cè)的顆粒數(shù)量

樣品縮略圖

可以將樣品彩色或黑白(可選擇)縮略圖顯示到報(bào)告中

表頭輸入

可以將樣品名稱(chēng)、測(cè)試單位、分散介質(zhì)等多項(xiàng)信息輸入到報(bào)告表頭中





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