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Nanonics AFM系列電鏡之-Academia

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NANONICS IMAGING LTD. (以色列NANONICS有限公司)是業(yè)界將近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡(NSOM)技術(shù)和原子力顯微鏡(AFM)相技術(shù)相結(jié)合的。Nanonics AFM系列電鏡之-Academia是該公司產(chǎn)品之一。

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

詳情介紹:

Nanonics AFM系列電鏡之-Academia 技術(shù)參數(shù)

1、掃描范圍: XY方向70um、Z方向5um,另外有10um掃描器選配

2、掃描步進(jìn):70um掃描器<1nm,10um掃描器<0.1nm

3、*大樣品尺寸:15mm×15mm

4、反饋機(jī)制:光束偏轉(zhuǎn)

5、操作模式:接觸式,非接觸式,敲擊式

6、探針類型:可使用Nanonics磚利的玻璃探針、電學(xué)熱學(xué)探針、Nanopen 等;同時(shí)也可使用通用的AFM探針



使用范圍:

1、力-距離測(cè)量

2、液體樣品成像

3、電學(xué)測(cè)量

4、微區(qū)熱分析測(cè)量

5、熱阻測(cè)量

6、與微拉曼光譜聯(lián)用

7、納米化學(xué)遷移及操控(Nano FountainPen)

8、深溝或邊墻材料成像(Deep Trench and Sidewall Imaging)

 


主要特點(diǎn)

1、是一款性價(jià)比很高的原子力顯微鏡,使用的靈活性很大

2、可使用Nanonics磚利的多種玻璃探針,也可以使用常規(guī)硅原子力探針

3、的掃描器及探針設(shè)計(jì)確保原子力顯微鏡掃描與光學(xué)顯微鏡實(shí)時(shí)兼容

4、可升級(jí)與Renishaw激光微拉曼光譜聯(lián)用

5、可升級(jí)近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡(NSOM)功能

6、使用Labview軟件包,留出一定的空間給用戶編寫特殊要求的軟件模塊


儀器介紹  

NANONICS IMAGING LTD. (以色列NANONICS有限公司)是業(yè)界將近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡(NSOM)技術(shù)和原子力顯微鏡(AFM)相技術(shù)相結(jié)合的。公司成立于1997年,NANONICS是業(yè)界成立*久并且對(duì)此類系列產(chǎn)品經(jīng)驗(yàn)*豐富的公司之一,其產(chǎn)品榮獲過許多國際大獎(jiǎng)。在強(qiáng)大的NSOM/AFM的整合操作系統(tǒng)的推動(dòng)下,今天NANONICS繼續(xù)以強(qiáng)大的優(yōu)勢(shì)和**的系統(tǒng)著市場(chǎng)。NANONICS憑借著實(shí)力和品質(zhì),其產(chǎn)品涉足的領(lǐng)域從科研到工業(yè),從生物學(xué)到半導(dǎo)體,從化學(xué)制品到無線電通訊,應(yīng)用范圍極其廣泛。 

低溫NSOM/AFM擁有*的系統(tǒng)設(shè)備、環(huán)境友好的樣品反應(yīng)室、化學(xué)藥品和氣體自動(dòng)傳送系統(tǒng);還有nano-印刷術(shù)系統(tǒng),給消費(fèi)者提供一個(gè)**的系統(tǒng)配置選擇。加上有AFM/NSOM/SEM的整合與AFM/NSOM/micro-Raman的整合系統(tǒng)這樣強(qiáng)大的成象結(jié)合,可以讓用戶擁有的實(shí)驗(yàn)平臺(tái)來完成所有的材料表征應(yīng)用。探針包括NSOM探針,micro-pipettes是檢測(cè)熱、電性能的,同時(shí)探針還可以提供氣體和液體加樣,這是Nanonics系列產(chǎn)品的功能,可以為提供用戶在很小的范圍內(nèi)做原位反應(yīng)等。NAONICS系統(tǒng)兼容可所有供應(yīng)商提供的SPM探針。 

Renishaw PLC Ltd是*主要的Raman微型光譜成像系統(tǒng)的供應(yīng)商,**次與Nanonics Imaging Ltd一起合作制造了Raman化學(xué)成像的掃描探針顯微鏡(SPM)。此發(fā)明獲得2003年光子學(xué)循環(huán)的**獎(jiǎng),AFM和Raman的結(jié)合物既能運(yùn)行AFM掃描也能做Raman掃描。目前沒有一個(gè)系統(tǒng)能比得上Nanonics和Renishaw結(jié)合物的強(qiáng)大功能。現(xiàn)在,我們又將瑞典Smiths有限公司的在線紅外測(cè)試儀和掃描電鏡SEM與其結(jié)合在一起,使其擁有更強(qiáng)大的材料表征功能,同時(shí)客戶可以得到更高性價(jià)比的儀器。


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