圓二色譜儀-高通量對(duì)映體過(guò)量測(cè)量（ee）儀(EKKO CD)
圓二色譜儀-高通量對(duì)映體過(guò)量測(cè)量（ee）儀(EKKO CD)，是手性分析/催化劑手性測(cè)量常用的技術(shù)，是指左右圓偏振光之間的差異吸收。圓二色譜儀,對(duì)映體過(guò)量測(cè)量,催化劑手性測(cè)量通常用于分配蛋白質(zhì)的二級(jí)結(jié)構(gòu)和確定不對(duì)稱(chēng)合成中的對(duì)映體純度。
傳統(tǒng)的 CD 受限于光路結(jié)構(gòu)，使用時(shí)需要將樣品從合成的孔位板轉(zhuǎn)移到比色皿中進(jìn)行測(cè)量。用戶(hù)不得不使用機(jī)械傳遞送樣，但是速度還是受到很大限制。并且測(cè)量之間必須清潔比色皿。這是一個(gè)費(fèi)力和耗時(shí)的過(guò)程，拉低了這個(gè)測(cè)試效率。
圓二色譜儀高通量快速對(duì)映體過(guò)量值（ee值）測(cè)試儀 （EKKOTM CD MicroPlate Reader ） 運(yùn)用新的路，實(shí)現(xiàn)了直接從孔板讀取 CD 信號(hào)，大大提升了測(cè)試效率。也使得以下問(wèn)題將不再稱(chēng)為對(duì)映體過(guò)量值（ee值）測(cè)試的困擾：
1）將孔板的每個(gè)孔中的內(nèi)容物轉(zhuǎn)移到比色皿中
2）在測(cè)量進(jìn)程中不得不清潔比色皿
相較于傳統(tǒng)圓二色譜系統(tǒng)，甚至常用的性高效液相色譜(HPLC) 和超臨界流體色譜 (SFC)，其測(cè)量效率提高近100倍！
圓二色譜儀-高通量對(duì)映體過(guò)量測(cè)量（ee）儀(EKKO CD)
圓二色譜儀-高通量對(duì)映體過(guò)量測(cè)量（ee）儀(EKKO CD)產(chǎn)品特點(diǎn)
快速高通量進(jìn)行不對(duì)稱(chēng)合成和催化的篩選
單波長(zhǎng)測(cè)量全孔位板（96個(gè)）僅需不到2min
全光譜掃描在不到 2 小時(shí)內(nèi)可完成
檢測(cè)效率比 傳統(tǒng)液相色譜(HPLC) 和超臨界流體色譜 (SFC)方法更快且成本更低，且每小時(shí)可讀取數(shù)千個(gè)對(duì)映體過(guò)量值。
操作比傳統(tǒng)的帶有自動(dòng)采樣附件的 CD 更簡(jiǎn)單，無(wú)需將孔板的每個(gè)孔中的內(nèi)容物轉(zhuǎn)移到比色皿中，也無(wú)需在測(cè)量進(jìn)程中清潔比色皿
功能更人性化，可以直接從孔板讀取對(duì)映體過(guò)量值（無(wú)序轉(zhuǎn)移到比色皿）
自帶軟件和電腦
更小體積：20” x 23” x 28” (50cm x 60cm x 70cm)
圓二色譜儀-高通量對(duì)映體過(guò)量測(cè)量（ee）儀(EKKO CD)產(chǎn)品應(yīng)用
催化劑手性測(cè)量/測(cè)量手性小分子以及蛋白質(zhì)等生物大分子
研究試劑、催化劑、溶劑和各種實(shí)驗(yàn)條件在微孔板中的組合混合。
圓二色譜儀-高通量對(duì)映體過(guò)量測(cè)量（ee）儀(EKKO CD)產(chǎn)品參數(shù)
高通量篩選 |
檢測(cè)模式 | 圓二色性和吸光度 |
測(cè)量模式 | 單波長(zhǎng) |
| 光譜 |
孔位板 | 96孔板 |
| （384可選） |
讀取時(shí)間 | <>分鐘（96孔，單波長(zhǎng)） |
| <>小時(shí)（96孔，全光譜范圍） |
每孔體積（Min） | 45 µl（96 孔板格式） |
CD規(guī)格 |
波長(zhǎng)范圍 | 185-880nm |
| 雙 |
波長(zhǎng)精度 | +/- 0.1nm |
雜散光 | 5ppm（200nm） |
rms噪聲 | +/- 0.08 mdeg (200nm, 8 s integration time) |
| +/- 0.02 mdeg (500nm, 8 s integration time) |
CD范圍 | +/- 1000 mdeg |
帶寬 | 2nm |
吸光度精度 | 0.01AU |
光源壽命 | > 9000 h typical |
N2 purge | 0.5 l/min |
溫度 | 室溫 |
圓二色譜儀,對(duì)映體過(guò)量測(cè)量,催化劑手性測(cè)量一些測(cè)量數(shù)據(jù)精度
圓二色譜儀-高通量對(duì)映體過(guò)量測(cè)量（ee）儀(EKKO CD)測(cè)試數(shù)據(jù)
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