泰勒研究級非接觸式表面輪廓儀CCI HD是一款非接觸式的光學3D輪廓儀，非常適合于制造和研究領域的應用，可測量厚度至1.5微米的厚膜和厚度至50納米的薄膜涂層，具有測量方便快速和準確性高等優點。

     泰勒研究級非接觸式表面輪廓儀CCI HD不僅能夠測量薄膜，也能夠測量厚膜；儀器具有性的關聯算法，可以查找儀器光學掃描裝置產生的干涉圖的相干峰和相位，整合了世界的非接觸式尺寸測量功能和*的厚薄膜測量技術，不僅可以測量尺寸和粗糙度，還可以提供兩種類型的膜厚測量，近年來厚膜分析被用于研究厚度至約 1.5 微米的半透明涂料；測量的厚度限制取決于材料的折射率和標的物的 NA。 測量較薄的涂層被證實為難度更高。泰勒研究級非接觸式表面輪廓儀CCI HD現在通過干涉測量法可以研究厚度至 50 納米（同樣取決于折射率）的薄膜涂層。 采用這種新型方法，可以在單次測量中研究膜厚、界面粗糙度、針孔缺陷以及薄涂層表面的剝離等特性。

儀器技術參數：

1.2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率

2.全量程0.1埃的分辨率

3.適用于0.3% - *的表面反射率

4.RMS 重復精度<0.2埃，階躍高度重復精度<0.1%

5.多語言版本的64位控制和分析軟件

CCI光學裝置：

無論對分析速度的要求有多高，泰勒創新的CCI光學裝置非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結果。 高分辨率相機與1/10埃垂直分辨率相結合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量極其光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細分析。

CCI光學裝置與光學研究人員和科學家的專業知識保持與時俱進，能滿足光學領域的嚴苛測量要求。 CCI光學裝置將強大的尺寸及粗糙度分析軟件與的工程設計融于一體，是一種非常適合用于粗糙度測量的檢驗工具。 CCI*的薄膜厚度測量功能，進一步完善了為光學工業而設計的出色計量包裝 。

• 2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率
• 全量程0.1埃的分辨率
• 輕松測量反射率為0.3% - *的各種表面
• RMS重復精度<0.2埃，階躍高度重復精度<0.1%
• 多語言版本的64位控制和分析軟件