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maxLIGHT無狹縫平場XUV光譜儀和光束分析儀

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公司介紹

德國HP Spectroscopy公司成立于2012年,致力于為科研及工業領域的客戶定制解決方案,是科學儀器的供應商和開發商。產品線包括XAS系統,XUV/VUV/X-ray光譜儀,beamline產品等。主要團隊由x射線、光譜、光柵設計、等離子體物理、beamline等領域的專家組成。并與的研究機構的科學家維持緊密合作,關注前沿技術,保持產品的迭代與創新。

產品簡介

  • 攝譜儀和單色儀功能

  • 具有效率的光柵

  • 波長范圍為1 ~ 200nm

  • 高精度波長設置

  • 緊湊、模塊化設計

得益于其無縫設計,maxLIGHT pro可提供同品類光譜儀中的集光量和的效率。經像差校正的平場波長范圍可覆蓋1nm至200nm的寬光譜帶寬,比如,單個光柵可覆蓋5-80nm。

其模塊化設計能夠匹配不同的實驗配置。它具有集成的狹縫支架和濾光片插入單元,以及電動光柵定位。

靈活完善的探測器配置選項

nXUV CCD——高分辨高動態范圍應用

MCP/CMOS——寬光譜范圍、門控或像增強探測需求可根據用戶要求進行定制

無縫設計

HPS公司專有的光譜儀設計使用光源直接成像技術。 因此,不需要狹窄的入口狹縫,并且可以地收集入射光。 與傳統的光譜儀架構相比,到達探測器的光強會高出20倍。 該結構還極大地提高了日常操作的穩定性。

北京眾星聯恒科技有限公司

北京眾星聯恒科技有限公司

測量結果

北京眾星聯恒科技有限公司

在使用阿秒XUV脈沖的符合光譜應用中,通過maxLIGHT XUV(左圖)對HHG進行表征。

高次諧波源自單光子躍遷(藍色箭頭),而XUV和IR光的雙光子躍遷則呈現為光電子譜的邊帶(右圖)。

J. Vos et al, Orientation-dependent stereo Wigner time delay

and electron localization in a small molecule

Science 360 1326-1330 (2018)

北京眾星聯恒科技有限公司

通過maxLIGHT XUV測量的HHG光譜(右圖)和25fs基頻光脈沖在kagomé光子晶體光纖中寬化的光譜(左圖)。隨著泵浦能量的增加,孤子藍移對HHG的影響清晰可見。

F. Tani et al, Continuously wavelength-tunable high harmonic generation via soliton dynamics

Opt. Lett. 42 1768-1771 (2017)

北京眾星聯恒科技有限公司

在相同的信號強度下,與標準光譜儀(虛線)相比,maxLIGHT pro光譜儀(實線)的分辨率明顯更高。要獲得等價的光譜分辨率,傳統光譜儀技術需要設置窄狹縫,從而顯著降低信號強度。

C. Hauri et al, High-Harmonic Radiation for seeding the

Swiss Free Electron Laser
Andor Learning (2016)

北京眾星聯恒科技有限公司

用maxLIGHT XUV獲得的150kHz重頻下截止區域內的HHG光譜。CEP的變化顯示出在某些CEP設置下強度調制開始消失,表明了獨立阿秒脈沖的存在。

M. Krebs et al, Towards isolated attosecond pulses at

megahertz repetition rates

Nature Photonics 7 555–559 (2013)

北京眾星聯恒科技有限公司

參考光譜示例證明了maxLIGHT光譜儀的分辨能力。如圖所示為飛秒激光脈沖和固體靶相互作用后,經濾光片過濾后的高次諧波譜。諧波產生過程中所固有的精細結構譜可以被maxLIGHT光譜儀清晰地分辨出來。圖片上半部分:由 X 射線 CCD 相機記錄的原始圖像。 圖片下半部分:通過列合并獲得的諧波譜。

L. Waldecker et al, Focusing of high order harmonics from solid density plasmas

Plasma Phys. Control. Fusion 53 124021 (2011)


技術參數

Topology類型

像差校正平場光譜儀和光束分析儀

波長范圍

1-200nm



光源距離

可根據用戶實際光路靈活調整

探測器類型

CCD or MCP/CMOS


真空兼容度

<10-6mbar(UHV超高真空版可定制)


無狹縫技術



入射狹縫

可調



光柵定位

閉環電控臺


濾光片插入裝置



控制接口

USB 或 Ethernet



軟件

Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK

定制化

可根據需求定制



可選項

非磁性,旋轉幾何,偏振測量等


SXR

XUV

VUV

波長范圍

1-20nm

5-80nm

40-200nm

色散能力

0.2-0.4nm/mm

0.5-1.3nm/mm

0.9-1.6nm/mm

分辨率

<0.015nm

at 10nm

<0.028nm

at 40nm

<0.05nm

at 120nm


應用

  • 高次諧波發生源

  • 阿秒科學

  • 激光與物質強烈的相互作用

  • 自由電子激光

  • 激光和放電產生的等離子體源

  • x射線激光

  • 激光驅動二次源



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