膠體系統的精確測量
NANOTRAC WAVE II粒度分析儀中的zeta電位測量采用了與測量納米粒度分布相同的頻率功率譜方法。同樣穩定的光學樣品接口意味著無需調整。在測量粒徑時，收集反向散射和激光放大的檢測信號，應用電場的快速排序可防止電滲。光學探針表面被涂覆以提供與樣品的電接觸。使用兩個探針，一個用于確定滑動面上粒子電荷的極性，另一個用于測量粒子在電場中的遷移率。極性是在脈沖電場中測量的，而遷移率是在高頻正弦波電場激勵下測量的。zeta電池的兩側有兩個探測探針，用于探測極性和遷移率。 根據線性頻率功率譜分布（PSD），可以計算與顆粒濃度成正比的負載指數（LI）。負載指數值為總散射提供了一個單一數字，可用于確定微粒的遷移率（微米/秒/伏/厘米）和微粒極性（正負）。 測量遷移率和zeta電位首先測量PSD，并在激發關閉的情況下確定LI。然后在高頻正弦波打開的情況下測量PSD，并取一個比率。通過測量脈沖直流激勵前后的LI來確定極性。對于帶正電的探針表面，激發后的LI除以激發前的LI的比值小于1表示正極性（濃度降低），大于1表示負極性（濃度升高）。
Mobility = C x (ratio of [PSD(on) – PSD(off)] / LI(off)
Zeta電位∝ 流動性
多功能性是動態光散射 (DLS) 的一大優勢，這使得該方法適用于研究和工業中的各種應用，例如藥物、膠體、微乳液、聚合物、工業礦物、油墨等等。
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| 計算方法 | 背散射激光放大散射參考方法 |
| 計算模型 | FFT功率譜 |
| 測量角度 | 180° |
| 測量范圍 | 0.3 nm - 10 µm |
| 樣品池 | NANOTRAC WAVE II：各種樣品池選項 NANOTRAC WAVE II Q：各種比色皿 |
| Zeta電位分析 | 是 |
| Zeta測量范圍（電位） | -200 mV - +200 mV |
| Zeta測量范圍（尺寸） | 10 nm - 20 µm |
| 電泳流動性 | 0 - 15 (µm/s) / (V/cm) |
| 電導率測量 | 是 |
| 電導率范圍 | 0 - 10 mS / cm |
| 分子量測量 | 是 |
| 分子量范圍 | <300 Da -> 20 x 10^6 Da |
| 溫度范圍 | +4°C - +90°C |
| 溫度精度 | ± 0.1°C |
| 溫度控制 | 是 |
| 溫度控制范圍 | +4°C - +90°C（樣品池） +4°C - +70°C（PE比色皿） +4°C - +90°C（玻璃比色皿）。 |
| 滴定法 | 是 |
| 可重復性（尺寸） | =< 1 |
| 可重復性（Zeta） | + / - 3% |
| 樣品體積大小測量 | 50 µl - 3 ml |
| 樣品體積Zeta測量 | 150 µl - 2 ml |
| 濃度測量 | 是 |
| 樣品濃度 | 高達40％（取決于樣品） |
| 載體流體 | 水、極性和非極性有機溶劑、酸和堿（與WAVE II Q的比色皿不同）。 |
| 激光器 | 780納米，3毫瓦；2個帶澤塔的激光二極管 |
| 濕度 | 90 %不凝結 |
| 設備尺寸（寬x高x深） | 355 x 381 x 330 mm |
從功率譜迭代粒度計算
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