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高精度科研級CT XLAB-1000

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特點與優勢雙襯度成像技術雙襯度成像技術解決了成分吸收系數相近導致成像不清的痛點,該技術在吸收襯度成像方式之外,還可以利用穿過物體的X射線束相位改變的信息產生圖像,即相位襯度成像,有效識別出那些單一掃播無法識別的結構

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特點與優勢

雙襯度成像技術


雙襯度成像技術解決了成分吸收系數相近導致成像不清的痛點,該技術在吸收襯度成像方式之外,還可以利用穿過物體的X射線束相位改變的信息產生圖像,即相位襯度成像,有效識別出那些單一掃播無法識別的結構。



射線源免維護


XLAB-1000所使用射線源采用的一體化設計,在保證性能穩定的同時使用簡單,無需耗材,免于維護,很大程度上減輕了使用成本。




極小的像素尺寸


對于同一視野而言,像素尺寸越小,空間分辨率越好。XLAB-1000的探測器像素尺寸僅6.5um,保證了高精度的成像。




多場景原位拓展


設備采用模塊化設計,預留足夠的腔體空間,可與微曠自研的多場景原位拓展技術體系搭配使用,輕松升級為4DCT,獲取在高溫、拉壓、應力腐蝕、熱壓燒結等近服役工況下樣品的內部結構動態演化過程。



強大的軟件系統(X-VISON)

X-VISON 軟件系統實現了從采集到重構的一站式處理,可采取旋轉掃描、限制角度掃播、感興趣掃描、動態4D掃描等模式。同時擁有抖動消除、環狀偽影去除、射束硬化矯正等多重算法加持,保證圖像質量。


                       環影去除算法                                                  射束硬化矯正算法

應用領域

               復合材料                                  紡織材料                              增材制造                          生命科學                                  半導體芯片

技術參數

空間分辨率1  ≥5 μm
像素細節識別能力 200nm
管電壓 90kv
射線源類型  閉管
樣品尺寸 直徑200mm*高度 200mm 
樣品承重
 12kg 
1 可用JIMA卡測試

*以上數據僅供參考


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