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日立X射線熒光光譜儀 X-Strata 920

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X射線熒光分析的優點:●最少或無需樣品制備●無損分析●可測元素范圍廣:Ti22toU92●可分析固體和溶液●分析快速:幾秒內得到結果●定性、半定量和全定量分析●操作容易,只需要簡單培訓詳細參數請咨詢客服!利用X射線熒光(XRF)進行鍍層厚度測量和材料分析,提高過程和質量控制

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X射線熒光分析的優點:

●最少或無需樣品制備

●無損分析

●可測元素范圍廣:Ti22 to U92

●可分析固體和溶液

●分析快速:幾秒內得到結果

●定性、半定量和全定量分析

●操作容易,只需要簡單培訓 詳細參數 請咨詢客服!
利用X射線熒光(XRF)進行鍍層厚度測量和材料分析,提高過程和質量控制。X-Strata是結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備, 提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。它在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出的分析能力,可進行多鍍層厚度的測量。
 
X-Strata920 – 性價比高,無損可靠 
一款操作簡單的質量控制分析儀,滿足鍍層厚度測量和材料分析。
 
新型號設計
 
快速分析(幾秒)1-4層鍍層厚度
多款規格,例如標準樣品臺、加深樣品臺或自動程控樣品臺,滿足所有樣品類型
開槽式樣品艙可檢測大面積樣品,例如印制線路板等
符合ISO3487和ASTM B568檢測方法
X-Strata920 - 三種配置滿足您的需要:
 
固定樣品臺
開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品,如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
經濟、實用
平面樣品臺設計,適合高度不超過1.3"(33mm)的樣品分析
 
加深樣品臺
高度每英寸(25.4mm)可調,架構式樣品艙可容納高度6.3"(160mm)的樣品
可以選4個樣品盤中任一個來盛放不同高度的樣品
開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品,如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
 
程控樣品臺
用于自動化測量 
方便根據測試位置放置樣品,并精準定位測量點
開槽式樣品艙允許檢測大型平板樣品,如印制線路板
 
樣品臺尺寸:22"(D) x 24"(w),即560mm (深) x 610mm (寬) 


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