1.檢測(cè)粒徑范圍款從５nm至 1000um ；2.可測(cè)量Zeta電位、頻率、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減 ；3.Zeta電位測(cè)量范圍：+/-200 mv,low surface charges (可低至0.1mv),高精度（±0.1mv）；4.Zero surface charge條件下也可測(cè)量粒徑；5.允許樣品濃度：0.1～50％（體積百分?jǐn)?shù)）.

主要特點(diǎn)

1.能分析多種分散物的混合體
2.無(wú)需依賴Double Layer 模式,精確地判定等電點(diǎn)
3.可適用于高導(dǎo)電（highly conducting）體系
4.可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾
5.可精確測(cè)量無(wú)水體系
6.Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù)，無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量
7.樣品的zui高濃度可達(dá)50％（體積比）,被測(cè)樣品無(wú)需稀釋，對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量
8.具有自動(dòng)電位滴定功能

儀器介紹

高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測(cè)儀,測(cè)試: 
粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等 

此儀器容易使用、測(cè)量精確。對(duì)于高達(dá)50％（體積）濃度的樣品，也無(wú)需進(jìn)行稀釋或樣品前處理即可直接測(cè)量。甚至對(duì)于漿糊、凝膠、水泥以及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可直接進(jìn)行測(cè)量。結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)緊湊，外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動(dòng)滴定裝置可自動(dòng)、快速地判斷等電點(diǎn)，可快速得到*分散劑和絮凝劑。對(duì)粒度和雙電層失真進(jìn)行自動(dòng)校正。該儀器的軟件易于使用，通用性強(qiáng)，非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制。


 Dispersion Technology，Inc. 
       產(chǎn)品：       　                      應(yīng)用于： 
DT-1200聲波和電聲波測(cè)量?jī)x        實(shí)驗(yàn)室中粒徑和Zeta電位及滴定、pH值測(cè)量 
DT-100聲波測(cè)量?jī)x                 實(shí)驗(yàn)室中粒徑分析儀  
DT-300Zeta電位探頭               實(shí)驗(yàn)室中Zeta電位分析 
DT-400自動(dòng)膠體滴定               滴定、pH值、表面活性、鹽度等 
分析軟件                         膠體科學(xué)領(lǐng)域的理論 

典型應(yīng)用領(lǐng)域： 
     Aggregative Stability, 水泥漿, 陶瓷, 化學(xué)機(jī)械研磨, 煤漿, 涂料, 化妝品, 環(huán)境保護(hù)浮選法礦物富集, 食品工業(yè), 乳膠, 微乳, 混合分散體系, 納米粉, 無(wú)水體系, 油漆成像材料. 

測(cè)量參數(shù)： 
     粒子/液體的密度、液體的粘度、粒子的重量百分比、介電常數(shù)等參數(shù)。 

優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì)： 
     1、被測(cè)樣品無(wú)需稀釋 
     2、排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾 
     3、不需定標(biāo) 
     4、能分析多種分散物的混合體 
     5、高精度 
     6、所檢測(cè)粒徑范圍款從５nm至 1000um 

優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì)： 
     1、無(wú)需定標(biāo) 
     2、能測(cè)更寬的粒徑范圍 
     3、無(wú)需依賴Double Layer 模式 
     4、不需依賴（electric surface properties）電表面特性 
     5、Zero surface charge條件下也可測(cè)量粒徑 
     6、可適用于無(wú)水體系 
     7、可適用于高導(dǎo)電（highly conducting）體系 

優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì)： 
     1、無(wú)需稀釋，固含量高達(dá)50% 
     2、可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾 
     3、高精度（±0.1mv） 
     4、low surface charges (可低至0.1mv)  
     5、electrosmotic flow 不影響測(cè)量 
     6、對(duì)流（convection）不影響測(cè)量 
     7、可精確測(cè)量無(wú)水體系