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溫濕度偏壓壽命試驗箱HAST-25榮計達儀器

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HAST高壓加速老化試驗箱用于評估非氣密性封裝IC器件(固態設備)在高溫高濕條件下的運行可靠性,對芯片、半導體等其他元器件進行溫濕度偏壓(不偏壓)高加速應力壽命老化試驗。

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一、溫濕度偏壓壽命試驗箱產品用途:
HAST高壓加速老化試驗箱用于評估非氣密性封裝IC器件(固態設備)在高溫高濕條件下的運行可靠性,對芯片、半導體等其他元器件進行溫濕度偏壓(不偏壓)高加速應力壽命老化試驗。
二、溫濕度偏壓壽命試驗箱執行試標準:
GB/T2423.40-1997電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法Cx:不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱
IEC60068-2-66-1994環境試驗.2-66部分:試驗方法.試驗Cx:穩態濕熱
JESD22-A100循環的溫度和濕度偏移壽命
JESD22-A101穩態溫度,濕度/偏壓,壽命試驗(溫濕度偏壓壽命)
JESD22-A102高壓蒸煮試驗(加速抗濕性滲透)
JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命
JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應力試驗
JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應力實驗UHAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽)
三、主要參數:
型號:HAST-25
內箱尺寸:直徑φ*250*450mm
外箱尺寸:寬**560*1250*1050mm
溫度范圍
飽和105151.4(99%R.H): 105.0133.3(99%R.H)
非飽和110.0157.5(85%R.H):110.0140.0 (85%R.H)
118.0162.5(65%R.H): 118.0-150.0(65%R.H)
濕度范圍:65%99%R.H
壓力范圍
飽和0.0190.393MPa
非飽和0.0190.208MPa
溫度波動度±0.5
溫度均勻度±0.5
濕度波動度±2.0%RH
壓力偏差±5.0%RH
升溫速率≤±2Kpa
升壓時間+25+135,全程平均約45min(空裁,不發熱)
箱體材質
外箱材料優質防腐電解板,表面靜電粉體烤漆,顏色為科明標準色
內箱材料SUS316不銹鋼板:內膽整體全滿焊焊接而成
保溫層:超細玻璃棉保溫層,阻燃等級A1
噪音60分貝(dB) (噪音檢測裝置距離設備大門1m處測量)
控制器:7寸彩色觸摸屏智能模糊控制器,搭載科明KM-5160 壓力溫濕度版操作系統
使用條件:1+5℃~+35/2相對濕度:不大于85%RH 3大氣壓力:80kPa106kPa4.平坦無振動的地面
保護裝置a.加熱器空焚防止保護開關 b,加熱器過電流斷路器c.循環風扇過電流超載保護 d.壓縮機高壓保護開關 e,壓縮機過熱保護開關f.壓縮機過電流保護開關g,過電壓欠逆相保護開關 h.路斷路器 漏電開關過零點流體功率控制器 k.缺水保護
四、產品特點:
內膽采用雙層圓弧設計,可以防止試驗結露滴水現象,從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。
產品滿足JESD22-A100A118偏壓(BHAST)或不偏壓(UHAST)加速抗濕性試驗以及飽和高壓蒸汽(蒸煮)試驗。
產品兼容高加速溫濕度應力HAST老化試驗和高壓蒸煮PCT抗濕性試驗。
五、試驗方法說明:
1.JESD22-A101-C:穩態溫度,濕度/偏壓,壽命試驗(溫濕度偏壓壽命)
試驗條件包括:溫度,相對濕度,和元件加偏壓的時間
常用測試條件:85℃±2/85%R.H±5/7.12psia49.1kpa/8mA/1000h
2.JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應力試驗
常用測試條件:
130℃±2/85%R.H±5/33.3psia230kpa96h110℃±2/85%R.H±5/17.7psia122kpa264h
3.JESD22-A118:溫濕度無偏壓高加速應力實驗UHAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽)
試驗條件包括:溫度,相對濕度,蒸汽壓力和時間
常用測試條件:
130℃±2/85%R.H±5/33.3psia230kpa96h264h)和110℃±2/85%R.H±5/17.7psia122kpa264h96h)樣品數25ea/lot , 3lots
4. JESD22-A102-EPCT高壓蒸煮試驗
5. JESD22-A102-DPCT無偏壓高壓加速抗濕性試驗
試驗條件包括:溫度,相對濕度,蒸汽壓力和持續時間
常用測試條件:121℃±2/99%R.H/29.7psia205kpa/24h,48h,96h,168h,240h,336h


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