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TRA-300 LED熱結構分析測試系統

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采用多項技術,具備精細結構函數分析功能

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采用多項技術,具備精細結構函數分析功能

用于LED封裝產品的熱阻、結溫及分層熱阻結構的精密分析;

采用TRA專用軟件進行結構函數分析,可以獲得LED精細的熱阻結構(從芯片至各封裝結構的熱阻值),從而客觀評價LED封裝產品的散熱質量和熱管理水平,為LED的散熱設計提供驗證。


主要參考標準

EIA/JESD 51-1~14 Integrated Circuits Thermal Measurement Method

MIL-STD-750D Test Method for semiconductor Device

SJ 20788-2000 半導體二極管熱阻測試方法

GB/T 4023-1997 半導體器件分立器件和集成電流第二部分:整流二極管

QB/T 4057-2010 普通照明用發光二極管性能要求




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