VERTEX80/80v傅立葉變換紅外光譜儀特點VERTEX80和VERTEX80v真空FTIR光譜儀采用主動準直的UltraScan™干涉儀，能夠為您帶來的光譜分辨率

VERTEX 80/80v 傅立葉變換紅外光譜儀

特點

VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光譜儀采用主動準直的 UltraScan™ 干涉儀，能夠為您帶來的光譜分辨率。高精度的線性氣動軸承掃描儀以及優質光學元件為儀器的極限靈敏度和穩定性提供了保證。VERTEX 80v采用真空光學臺，可消除大氣中的水分吸收，從而實現的靈敏度和穩定性，助力進行諸多高難度試驗，如高分辨率、超快速掃描、步進掃描或紫外光譜范圍測量。

得益于VERTEX 80/80v 的光學設計，系統不僅具備的靈活性，還擁有的性能。布魯克光學無二的DigiTect™技術，有助于避免外部信號干擾，保證了儀器的信噪比，這使得用戶可以輕松重復地自行更換檢測器。兩個可選的外接檢測器端口可安裝輻射熱測量計和/或熱電子檢測器的液氦杜瓦。與外接的水冷高功率Hg-arc光源相結合，即便是使用室溫DTGS檢測器，也能達到近期重新發現的太赫茲光譜范圍。

譜區擴展

VERTEX 80/80v可通過配備各種光學選件，來覆蓋從遠紅外或太赫茲開始，經中紅外和近紅外、可見光到紫外光的光譜區域。其預準直光學元件以及主動準直的UltraScan™干涉儀，使切換和維護變得十分簡單。

BMS-c： 布魯克為VERTEX 80v真空光譜儀提供高精度分束器切換選件BMS-c。

您可以在真空條件下，通過遠程控制自動更換多達4種不同類型的分束器。現在，您無需泄光譜儀真空打開光學臺來手動切換分束器，就能測量從紫外/可見光到遠紅外/太赫茲的完整光譜范圍。

全新附件： 布魯克為VERTEX 80/80v FTIR 系列光譜儀提供了全新的新型寬帶遠紅外/太赫茲分束器，拓展了分束器的選擇范圍。特別是在半導體和其它無機材料研究與開發應用中，由于全新的遠紅外固態分束器在單次測量中即可覆蓋從900 cm-1 到5 cm-1左右的光譜范圍，并且能夠將中紅外與遠紅外/太赫茲波譜范圍連接起來，因此它還能帶來更多價值。

光學分辨率

VERTEX 80 和 VERTEX 80v 標準配置提供優于 0.2cm-1的標點光譜分辨率，這足以進行大多數環境壓力氣相研究和室溫樣品測量。對于的低溫工作，例如在晶體半導體材料或低壓力下進行氣相測量，提供優于 0.06cm-1 的 PEAK 分辨率。這是使用商用臺式 FT-IR 光譜儀實現的光譜分辨率。可見光譜范圍內的高分辨率光譜顯示分辨率（波數 + 除以光譜分辨率 ? +）更好的 300，000：1。

多功能

創新的光學設計使靈活性和拓展能力的研究級真空FTIR光譜儀成為可能。借助真空光學臺，該系統在中紅外、近紅外和遠紅外區域具有的靈敏度，而不必擔心那些非常弱的光譜特征因空氣中的水蒸氣吸收而被掩蓋。VERTEX 80v 真空光譜儀能為您帶來的成果，例如在低至 10-3 單層的納米科學研究領域。不僅如此，它的靈活性幾乎不受限制。光學臺的右側、前側和左側布有5個光束輸出端口，右側和后側有兩個光束輸入端口。因此，它可以同時進行連接：例如，后側輸入端口的同步輻射光源、右側輸出口的 PMA50 偏振調制附件、右前側端口的光纖耦合模塊、左前側的輻射熱測量計探測器以及左側輸出端口的 HYPERION 系列 FTIR 顯微鏡。

VERTEX 80系列是要求苛刻的研究與開發應用的理想儀器。

所用技術受以下一項或多項保護：US 7034944

技術參數