Bristol Instruments提供了一系列測厚儀產品，可方便地測量厚度，并具有的測量精度以及重復性，以適用于大部分的應用需求。更重要的是，這些產品采用了一種極為有效的技術，即使用非接觸式光學探針進行無損檢測，同時這種技術還可以同時測量多層膜的厚度。

　　產品特點：

　　可測量硬材料和軟材料，并且不會造成損壞或變形

　　用于精確定位測量位置的可見光束

　　同時測量多達31層

　　測量光程： 12mm/ 40mm/80mm

　　測量精度： ±0.1 μm/±1μm

　　使用內置的固有長度標準進行連續校準

　　測量置信水平≥99.7%

　　可追溯至NIST標準

　　測量頻率高達20赫茲

　　使用USB或以太網進行PC通訊

　　提供基于Windows的光學測量軟件，用于設置測量參數和輸出測量數據

　　使用LabVIEW、.NET或自定義編程進行自動數據報告，無需專用PC

　　軟件測量界面：

　　應用領域：

　　光學元件和透鏡組件

　　可測量單個鏡片以及鏡頭組包括空氣間隔

　　隱形眼鏡和

　　測量中心厚度、矢高和群折射率

　　窺鏡

　　可同時測量壁厚、內徑和外徑，管壁厚度、管頸和管錐的壁厚

　　LCD, LED, OLED 和AMOLED顯示屏

　　可測量總厚度和各層厚度，包括LOCA（液體光學透明粘合劑）層

　　半導體

　　硅/砷化鎵晶片

　　玻璃拋光

　　測量化學腐蝕前后的厚度或拋光工藝，使玻璃板更薄、更輕。

　　Optional:

　　Lensthick 非接觸式光學測厚儀

　　產品特點：

　　LensThick集成了Bristol非接觸式光學測厚儀，系統集成化程度較高，增加了電動升降臺和傾斜平移一體調節臺，將測厚儀主機和高性能工控機集成在定制機柜里，并配備了高清顯示器，此外還開發了全中文人機交互軟件，軟件可實時顯示被測試產品的厚度和干涉信號，以便實時調整。軟件支持自動峰值模式，使用操作員創建的樣品設計文件，可以定義最多32個反射面（31層）的預期峰值位置，可自動識別在的閾度內預期峰值位置的峰值，從而計算并輸出每層的厚度。此外，軟件還帶有判據功能，即超出設計值的公差范圍，數據顯示為紅色。這些功能對質量控制是非常快速有效的。軟件還可根據用戶材料色散方程系數，自動計算出材料的群折射率并保存。針對同其它設備和產線集成，軟件還可通過TCP/IP形式將實時測量結果發送給其它設備。

　　LensThick ATW/ATS 系列全自動光學測厚儀

　　設備特點：

　　LensThick ATW配備晶圓測試模組，LensThick ATS配備單鏡片測試模組；

　　配備非接觸式光學測厚儀，測量精度高，速度快，且不會對樣品造成損傷；

　　采用大理石組合結構，穩定性高

　　XY平臺采用直線電機及高精度光柵尺，重復定位精度±0.001mm,位置精度±0.001mm；

　　采用CCD圖像識別定位，運用高精度算法，準確可靠；

　　測量時通過CCD圖像校正，保證測量中心位置準確；

　　主要配置/設備關鍵部件：

　　非接觸式光學測厚儀

　　XYR平臺參數：

　　平面度：±0.005mm

　　直線度：±0.005mm

　　重復定位精度：±0.001mm

　　位置精度：±0.001mm

　　視覺校正相機：

　　2000萬像素

　　低噪聲，高精度