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掃描電遷移率粒徑譜儀--德國Palas U-SMPS 1700

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U-SMPS1700掃描電遷移率粒徑譜儀德國Palas(帕剌斯)中國綜合服務商-北京恒捷利達科技有限公司通用掃描遷移率粒度儀

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U-SMPS 1700    掃描電遷移率粒徑譜儀    德國Palas(帕剌斯)中國綜合服務商-北京恒捷利達科技有限公司
       通用掃描遷移率粒度儀,適用于 2 – 400 nm 的高濃度

應用領域:
過濾器測試
氣溶膠研究
吸入實驗
工作場所測量

優點:

•    2至400 nm粒徑分布
•    連續和快速掃描的測量原理
•    高分辨率,多達128個分類器/衰減
•    適用于高達10^8顆粒/立方厘米的濃度
•    通用連接其他制造商的DMA和納米粒子計數器
•    圖形顯示測量值
•    直觀操作,使用7英寸觸摸屏和GUI
•    集成數據記錄儀
•    支持多種接口和遠程訪問
•    低維護
•    功能可靠
•    減少您的運營費用
產品規格:
測量范圍(尺寸)

2 – 400 nm

尺寸通道

高達256(128 /衰減)

測量范圍(濃度數據)

0-10^8個顆粒/立方厘米

用戶界面

觸摸屏,800•480像素,7英寸
(17.78 厘米)

數據記錄儀存儲

4 GB

軟件

PD分析

調整范圍(電壓)

1 – 10,000 V

體積流量(鞘空氣)

2.5 – 14升/分鐘

安裝條件

+5 – +40 °C(控制單元)


產品說明:

    適用于高氣溶膠濃度的Palas®通用掃描遷移率粒度儀(U-SMPS)有兩種版本。 U-SMPS帶有短分類柱(1700型),特別適合2-400 nm范圍內的精度粒度分布測量。Palas®U-SMPS系統包括一個分類器[在ISO 15900中定義稱為差動遷移率分類器(DEMC),也稱為差動遷移率分析儀(DMA)],根據氣溶膠顆粒電遷移率選擇氣溶膠顆粒并傳遞到出口。然后,在下游的Charme®氣溶膠靜電計中測量這些粒子攜帶的電荷。

氣溶膠靜電計的一個主要優點是可以進行非??焖俚臏y量。但是,這種方法需要很高的成本。因此,其適用性被限制于高氣溶膠濃度(例如,燃燒過程或顆粒發生器的下游)??梢酝ㄟ^物理參數直接追溯每時間單位(流量)的電荷測量值。其結果是,此方法主要用作凝結粒子計數器(例如UF-CPC)校準期間的參考。

U-SMPS使用觸摸屏圖形用戶界面進行操作??梢栽诙潭?0秒內執行單粒子分布掃描,或者在多達128個尺寸通道中執行掃描,在此期間,DEMC分類器中的電壓連續變化,從而導致每個尺寸通道的計數統計效率更高。集成的數據記錄器允許在設備上線性和對數顯示測量值。隨附的評估軟件提供各種數據評估(豐富的統計和平均值計算)和導出功能。

U-SMPS通常作為獨立設備運行,但也可以使用各種接口(USB,LAN,WLAN,RS-232 / 485)連接到計算機或網絡。 Palas®U-SMPS普遍支持其他制造商的DMA,CPC和氣溶膠靜電計。

U-SMPS的準確尺寸測定和可靠性能尤其重要,特別是對于校準。所有組件都必須通過嚴格的質量保證測試,并在內部組裝。


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