U-SMPS1700掃描電遷移率粒徑譜儀德國Palas(帕剌斯)中國綜合服務商-北京恒捷利達科技有限公司通用掃描遷移率粒度儀
U-SMPS 1700 掃描電遷移率粒徑譜儀 德國Palas(帕剌斯)中國綜合服務商-北京恒捷利達科技有限公司
通用掃描遷移率粒度儀,適用于 2 – 400 nm 的高濃度
應用領域:
過濾器測試
氣溶膠研究
吸入實驗
工作場所測量
優點:
• 2至400 nm粒徑分布 • 連續和快速掃描的測量原理 • 高分辨率,多達128個分類器/衰減 • 適用于高達10^8顆粒/立方厘米的濃度 • 通用連接其他制造商的DMA和納米粒子計數器 • 圖形顯示測量值 • 直觀操作,使用7英寸觸摸屏和GUI • 集成數據記錄儀 • 支持多種接口和遠程訪問 • 低維護 • 功能可靠 • 減少您的運營費用 |
測量范圍(尺寸) | 2 – 400 nm |
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尺寸通道 | 高達256(128 /衰減) |
測量范圍(濃度數據) | 0-10^8個顆粒/立方厘米 |
用戶界面 | 觸摸屏,800•480像素,7英寸 |
數據記錄儀存儲 | 4 GB |
軟件 | PD分析 |
調整范圍(電壓) | 1 – 10,000 V |
體積流量(鞘空氣) | 2.5 – 14升/分鐘 |
安裝條件 | +5 – +40 °C(控制單元) |
適用于高氣溶膠濃度的Palas®通用掃描遷移率粒度儀(U-SMPS)有兩種版本。 U-SMPS帶有短分類柱(1700型),特別適合2-400 nm范圍內的精度粒度分布測量。Palas®U-SMPS系統包括一個分類器[在ISO 15900中定義稱為差動遷移率分類器(DEMC),也稱為差動遷移率分析儀(DMA)],根據氣溶膠顆粒電遷移率選擇氣溶膠顆粒并傳遞到出口。然后,在下游的Charme®氣溶膠靜電計中測量這些粒子攜帶的電荷。
氣溶膠靜電計的一個主要優點是可以進行非??焖俚臏y量。但是,這種方法需要很高的成本。因此,其適用性被限制于高氣溶膠濃度(例如,燃燒過程或顆粒發生器的下游)??梢酝ㄟ^物理參數直接追溯每時間單位(流量)的電荷測量值。其結果是,此方法主要用作凝結粒子計數器(例如UF-CPC)校準期間的參考。
U-SMPS使用觸摸屏圖形用戶界面進行操作??梢栽诙潭?0秒內執行單粒子分布掃描,或者在多達128個尺寸通道中執行掃描,在此期間,DEMC分類器中的電壓連續變化,從而導致每個尺寸通道的計數統計效率更高。集成的數據記錄器允許在設備上線性和對數顯示測量值。隨附的評估軟件提供各種數據評估(豐富的統計和平均值計算)和導出功能。
U-SMPS通常作為獨立設備運行,但也可以使用各種接口(USB,LAN,WLAN,RS-232 / 485)連接到計算機或網絡。 Palas®U-SMPS普遍支持其他制造商的DMA,CPC和氣溶膠靜電計。
U-SMPS的準確尺寸測定和可靠性能尤其重要,特別是對于校準。所有組件都必須通過嚴格的質量保證測試,并在內部組裝。
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