儀器名稱：Zeta電位和分子量分析儀

品牌:  馬爾文

型號：Nano ZS系列

產(chǎn)地：英國

儀器介紹：

1. 新一代Zetasizer Nano ZS可以為膠體和聚合物化學(xué)專家提供綜合測量三項最重要參數(shù)的能力，即粒度、zeta 電位和分子量。這些系統(tǒng)中內(nèi)置了新技術(shù)，提供無比的靈敏性和多功能性。粒度 - NIBS 技術(shù)可以對粒徑范圍0.3 納米至 10 微米的顆粒和分子進行測量。Zeta 電位 - M3-PALS 技術(shù)能夠?qū)λ稚⒑头撬稚Ⅲw系中的 zeta 電位進行精確的測量。分子量 - 雪崩光電二極管檢測器和光纖檢測光學(xué)裝置提供測量分子量所需的靈敏度和穩(wěn)定性。 Zetasizer Nano ZS中,可根據(jù)實際應(yīng)用選擇Nano ZS, Nano ZS90, Nano S, Nano Z,Nano S90等不同型號。Zetasizer Nano ZS 是 Malvern Zetasizer Nano ZS中的，能夠測量所有三項參數(shù)，而且性能絲毫不減。
Nano ZS、Z 及 ZS90 都可以使用的一次性 zeta 電位樣品池，避免樣品之間的交叉污染。

2. 新一代Zetasizer Nano ZS納米粒度和Zeta電位及分子量分析儀 ，持續(xù)革新與優(yōu)化樹立納米分析新，融合多項技術(shù)挑戰(zhàn)顆粒表征極限 ，粒度范圍極寬:0.3-- 10 μm，濃度范圍廣: 0.1ppm—40%(w/v)，測量分子量，高分辨率高靈敏度Zeta電位測量，zeta電位樣品池具有所需樣品量低至150 μl 和檢測高濃度樣品至40%(依賴于樣品)的極限能力。

3. 多項技術(shù)，馬爾文NIBS非侵入背側(cè)光散射技術(shù)使儀器具有靈敏性
-馬爾文的新一代PALS+M3技術(shù),將的硬件與軟件技術(shù)相結(jié)合,有效檢測散射光的相位變化，馬爾文的毛細(xì)管樣品池電極組件,真正避免交叉污染。

4. 強大多功能系統(tǒng)，的APD檢測器,靈敏度無出其右，特制高性能He-Ne激光器,提供更高的穩(wěn)定性，標(biāo)準(zhǔn)配置研究級高速數(shù)字相關(guān)器，175度和12.8度相結(jié)合的雙角度測量模式,洞悉體系中的締合物含量。