SZ-100V2納米顆粒分析儀是準確測量小顆粒物理性質的分析工具，如顆粒粒徑、zeta電位的檢測，分子量（Mw）以及第二維利系數（A2）的測定；還可以用于檢測蛋白質、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數

SZ-100 V2 納米顆粒分析儀是準確測量小顆粒物理性質的分析工具，如顆粒粒徑、zeta電位的檢測，分子量（Mw）以及第二維利系數（A2）的測定；還可以用于檢測蛋白質、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數。SZ-100 V2納米顆粒分析儀典型應用包括：納米顆粒，膠體，乳液以及亞微米懸浮液。

主要特點

· 同臺儀器可測三種參數——粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數

· 寬檢測范圍，寬濃度范圍——樣品濃度可達40%

· 自動滴定儀——可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定

· 軟件操作簡單功能強大，一鍵測量

· 雙光路雙角度粒徑測量（90° 和173°）

· 采用微量樣品池

規格參數

· 粒徑測量原理：動態光散射法（光子相關光譜法）

· 粒徑測定范圍：0.3nm ～10μm

· 粒徑測量精度：±2%（NIST 可溯源標準粒子100nm）

· Zeta 電位測量原理：激光多普勒電泳法

· Zeta 電位測量范圍：-500 mV ～ +500 mV

· 分子量測量原理：Debye plot

· 分子量測量范圍：1000 ～ 2×107 Da

· 測量角度：90° 和173°（可自動或手動選擇）

· 樣品量：12μL ～ 1000μL