XU-100光譜測(cè)厚儀采用下照式C型腔體設(shè)計(jì)，搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng)，以及高敏變焦測(cè)距裝置，對(duì)各種大小異形件都可快速、精準(zhǔn)、無(wú)損測(cè)量

XU-100光譜測(cè)厚儀采用下照式C型腔體設(shè)計(jì)，搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng)，以及高敏變焦測(cè)距裝置，對(duì)各種大小異形件都可快速、精準(zhǔn)、無(wú)損測(cè)量。?檢測(cè)各種金屬鍍層，檢出限可達(dá)0.005μm，最小測(cè)量面積0.2mm²，凹槽深度測(cè)量范圍可達(dá)0-30mm，是一款測(cè)量鍍層厚度性價(jià)比高、適用性強(qiáng)的機(jī)型。

1.下照式設(shè)計(jì)?

可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。?

2.高精密微型移動(dòng)滑軌

快速精準(zhǔn)定位樣品。

3.?微焦X射線裝置

?最小檢測(cè)面積可達(dá)0.2mm²的樣品，可進(jìn)行各類電鍍層膜厚檢測(cè)。?

高效率正比接收器即使測(cè)試0.2mm²的樣品，幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

4.?變焦裝置算法

?可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行檢測(cè)，凹槽深度測(cè)量范圍可達(dá)0-30mm。?

5.的EFP算法

?多層多元素，包括有同種元素在不同涂鍍層的檢測(cè)，都可以快、準(zhǔn)、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析。