半自動光學元件表面缺陷檢測系統，是一款高分辨自動光學檢測儀器，可對各種平面、球面、非球面光學元件的缺陷及外觀進行自動化檢測
半自動光學元件表面缺陷檢測系統，是一款高分辨自動光學檢測儀器，可對各種平面、球面、非球面光學元件的缺陷及外觀進行自動化檢測。該系統可根據美標、國標或客戶自定義標準對劃痕和麻點等表面缺陷進行檢測。儀器內置功能齊全的分析軟件，能為光學表面質量提供快速和可靠的判斷。
產品特征 1、人工智能操作；
2、高性能數字相機；
3、自動檢測、自動判別；
4、穩定、均勻的照明光源；
5、高精度的自動定位和掃描平臺。
主要技術參數 | 半自動光學元件表面缺陷檢測系統 | ||
| 型號 | OSI---3000 | OSI---3000S |
| 樣品類型 | 平面 | 平面、球面、非球面 |
| 檢測標準 | 美軍標、國標或客戶自定義標準 | 美軍標、國標或客戶自定義標準 |
| 檢測效率 | 1200片/小時 （針對40/20標準，直徑25.4mm樣品） | 1200片/小時 （針對40/20標準，直徑25.4mm樣品） |
| 樣品尺寸 | ≤100 mm x 100mm | ≤100 mm x 100mm |
注：可根據用戶需求，提供同類特制系統。
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