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RISE Raman-SEM 顯微共聚焦拉曼與掃描電鏡聯用系統(拉曼-SEM)

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世界集成的拉曼成像與掃描電子顯微鏡RISE顯微鏡是一款新型聯用顯微鏡,它將SEM和共聚焦拉曼成像結合在一起

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世界集成的拉曼成像與掃描電子顯微鏡

RISE顯微鏡是一款新型聯用顯微鏡,它將SEM和共聚焦拉曼成像結合在一起。通過RISE顯微鏡,可以將超微結構表面特性與分子化合物信息關聯起來。

RISE顯微鏡將SEM和alpha300共聚焦拉曼成像顯微鏡的所有功能都融于一臺儀器中:

· 在拉曼和 SEM 測量之間快速、簡便切換

· 自動將樣品從一個測量位置移動另一個位置

· 集成化軟件界面,方便用戶進行測量控制

· 測量結果關聯與圖像疊加

· 獨立的SEM 和拉曼成像性能

與ZEISS電鏡聯用的 RISE顯微鏡 與TESCAN電鏡聯用的 RISE顯微鏡

RISE 顯微技術:

利用RISE顯微鏡,在整個測量程序中,可以將樣品在 SEM 真空室內從一個測量位置自動轉移到另一個位置,從而簡化了工作流程,大大提高了儀器的易用性。

應用實例:

倉鼠腦組織切片的拉曼-SEM疊加圖像。彩色編 砷化鎵 (GaAs) 樣品的拉曼-SEM疊加圖像。 PMMA-PS 共混聚合物的拉曼-SEM疊加圖像。

碼的拉曼圖像:綠色:腦白質;紅色:腦灰質; 彩色編碼的拉曼圖像:黃色:金基底;紅色: 彩色編碼的拉曼圖像:綠色:聚苯乙烯;紅色:

掃描范圍:100 x 100 µm,300 x 300 像素 = GaAs;藍色:生產殘留物;掃描范圍:50 x 聚甲基丙烯酸甲酯。

90,000光譜,每光譜測量時間50 ms。 50μm,300 x 300 像素 = 90,000光譜,每

光譜測量時間34 ms。

RISE 顯微鏡與地質樣品的 EDX 同區域對應分析。左:疊加的 SEM-EDX 圖像:可以區分三種不同元素組(橙色:Si、O;紫色:Si、Al、Fe、Ca;綠色:Na)。中間:同一樣品區的拉曼-SEM疊加圖像,呈現分子化合物的空間分布。右:相應的拉曼光譜。紅色:綠簾石;綠色:石英;棕色:斜長石(鈉長石);額外其他分子化合物。


產品特點

● 在拉曼光譜和掃描電鏡之間快速方便的轉換

● 拉曼光譜成像:每個樣品點都能獲取完整的拉曼光譜

● 2D和3D成像模式:平面(x-y方向)和深度掃描(z方向)

● 的衍射極限橫向分辨率:200-300nm

● SEM 和拉曼成像互不影響共聚焦拉曼成像

● 更高的共焦拉曼成像速度、靈敏度和分辨率

● 優異的深度分辨率適合三維圖像生成和深度分析

● 靈敏度和分辨率的光譜系統

● 超快拉曼成像選項,每張光譜0.76毫秒的采集時間

● 非破壞性成像技術,無需對樣品進行染色


RISE顯微鏡適合……

作為拉曼新手,您將受益于操作簡易性和直觀的測量過程

作為一名經驗豐富的使用者,在一臺設備上實現原位的電鏡-拉曼聯用圖像,獲得更多的樣品信息


適用領域:材料科學、納米技術、高分子科學、地球科學、生命科學、制藥業……


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