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alpha300 R 顯微共聚焦拉曼光譜儀

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關于WITecWITec公司成立于1997年,是一家為科研和工業應用提供高分辨率光學系統和掃描探針顯微鏡的德國制造商

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關于WITec

WITec公司成立于1997年,是一家為科研和工業應用提供高分辨率光學系統和掃描探針顯微鏡的德國制造商。公司的產品線包括探針技術的近場掃描光學顯微鏡,高靈敏度和高分辨率的共聚焦顯微拉曼光譜儀和用于材料研究和納米科技的原子力顯微鏡。

專注于創新并不斷推出新技術,WITec公司已經成為光學研究、結構分析和化學成像等領域的。在1999年推出臺共聚焦拉曼成像光譜系統,WITec就在靈敏度、測試速度和空間分辨率方面優于市場上的普通拉曼成像技術,使得WITec系統成為一個可以真正測試3D化學成像的拉曼光譜系統。WITec共聚焦顯微系統的模塊化設計,允許將共聚焦拉曼和掃描探針顯微鏡集成到一個系統。這些創新設計促使目前聯用拉曼成像系統被廣泛應用。

WITec公司在中國、日本、新加坡、西班牙和美國都設有分支機構,產品銷量在超過1000套。


alpha300 R顯微共聚焦拉曼光譜儀

WITec的創新精神使得 alpha300 系列一直處于市場的地位,研發出快速成像技術(FAST RAMAN IMAGING®)并將其作為標準技術, 給拉曼成像市場帶來了全新的變革。之后推出的真正共聚焦拉曼成像系統繼續建立了多方面的基準:高靈敏度、高速度和三維成像,以及光譜質量、空間分辨率,易用性和與其它測試手段的兼容性。

FAST RAMAN IMAGING®

快速拉曼成像(FAST RAMAN IMAGING®)是WITec每一套機械平臺或壓電臺掃描成像拉曼系統的標準配置。單個拉曼光譜的采譜時間可以短至10毫秒;配置 EMCCD時, 超快速拉曼成像(ULTRAFAST RAMAN IMAGING®)速度大大提高,單譜積分時間短至 0.76 毫秒。

關鍵特性:

■ 共聚焦拉曼成像,具有的高速度,高靈敏度和高分辨率

高光譜圖像中每個樣品點都能獲取一張完整的拉曼光譜

優異的橫向分辨率

出色的縱向分辨率,非常適于3D成像和深度分析

超快速拉曼成像,單譜積分時間1毫秒以下

采用超高通光量的鏡頭采譜,獲得的靈敏度和的光譜分辨率

損成像技術:無需對樣品進行染色或標記

優異的成像質量,譜形無畸變


部分技術指標:

1. 激光器:UV-VIS-NIR多種波長可選

軟件調節到達樣品的真實功率,調節步長0.1mW

2. 光譜儀:70%超高通光量,全波段優化無色差

不同焦長光譜儀可選

3. 檢測器:科研級CCD,量子效率高達90%以上

EMCCD可選(超快速成像),每秒1300個光譜

4. 空間分辨率:350nm(XY方向),850nm(Z方向)

5. 光譜重復性好: 0.02cm-1


可選/升級選項

UV-VIS-NIR多種激發波長可選

自動共聚焦拉曼成像 (25 x 25 mm2; 50 x 50 mm2可選)

低波數拉曼光譜及成像(<10cm-1

■ 全偏振拉曼光譜及成像

微區反射吸收光譜及成像(空間分辨率優于400nm

原位光電流及成像(空間分辨率優于500nm)

低溫/高溫/低溫強磁場拉曼光譜及成像

原位電化學拉曼光譜及成像

非線性光學成像(SHG/THG)

熒光壽命成像(FLIM)

■ 落射熒光成像

暗場散射光譜

光鑷及細胞在線培養

顆粒分析(particle scout)

Raman-AFM-SNOM聯用成像(真正意義上的原位!)

Raman-SEM(RISE)聯用成像(真正意義上的原位!)


alpha300 R 應用實例:

金剛石薄膜應力變化的共聚焦拉曼圖像,顏色變化反應 結晶蜂蜜中花粉的3D拉曼圖像。掃描點數:150x150x50= 1,125,000張

應力變化。紅色:壓縮應變,藍色:拉伸應變。 拉曼光譜, 掃描區域:50μmx50μmx50μm,單譜的積分時間:12.2毫秒,

總采集時間:3小時50分鐘。





半導體GaN層的拉曼縱向深度掃描。 紫色:GaN; 油(綠色)、烷烴(品紅色)和水(藍色)的3D共聚焦拉曼圖

綠色:結構邊緣的熒光; 紅色:材料應力。 像。掃描點數: 150×150×23 =517,500張拉曼光譜,掃描區域: 30μm×30μm×11.5μm,總采集時間:23分鐘。

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