E8-ADV是一款高性能專業測試貴金屬的能量色散型X射線熒光光譜儀(EDXRF)，其核心光路系統集合國內外幾十年EDXRF技術，核心部件采用美國進口，軟件算法采用美國EDXRF前沿技術，儀器所用標準樣品均有第三方檢測機構報告； E8-ADV采用小光斑設計，多種工作模型供選擇，測試數據精確高，穩定性強。
外形特點
● 儀器結構采用人體工程學設計，儀器兩側按成人手臂長度設計，方便移動、搬運
● 上蓋傾斜6度角，寓意對客戶的尊重
● 表面采用高檔汽車噴漆工藝，采用寶藍、雅致白搭配，藍色代表科技，白色代表圣潔，寓意對科學的敬仰
● 可視化樣品窗
輻射防護
● 樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線
● 輻射標志警示
● 迷宮式結構，防止射線泄漏
● 安全連鎖設計；測試過程中誤打開樣品蓋時，電路0.1μS快速切斷X射線
● 儀器經第三方檢測，X射線劑量率符合GB18871-2002《電離輻射防護與輻射源安全基本標準》
硬件技術
● 超短光路設計：提高樣品分析效率，降低光管功率，延長儀器使用壽命
● 模塊化準直器，根據分析元素，配備不同材質準直器，從而降低準直器對分析元素的影響，提高元素分辨率
● 空氣動力學設計，加速光管冷卻，有效降低儀器內部溫度；設計
● 電路系統符合EMC、FCC測試標準
● 技術快拆樣品盤，更換薄膜更方便
軟件技術
● 分析元素：Na~U之間元素
● 分析時間：180秒
● 軟件界面簡潔，模塊化設計，功能清晰，易操作
● HeLeeX ED Workstation V3.0軟件擁有數據一鍵備份，一鍵還原、一鍵清理功能保護用戶
數據安全
● HeLeeX ED Workstation V3.0根據不同基體樣品，配備三種算法，增加樣品測試精準度
● HeLeeX ED Workstation V3.0配備開放式分析模型功能，客戶可自行建立自己的工作模型
探測器
● 類型：X123探測器（采用高性能電致冷半導體探測器）
● Be窗厚度：1mil
● 晶體面積：25mm2
● 分辨率：145eV
● 信號處理系統DP5
X射線管
● 電 壓 ：0~50kV
● 電流 ：2.0mA
● 功率 ：50W
● 靶 材 ：Mo
● Be窗厚度 ：0.2mm
● 使用壽命 ：大于2萬小時
高壓電源
● 輸出電壓：0~50kV
● 燈絲電流：0~2mA
● 功率：50W
● 紋波系數：0.1%（p-p 8小時穩定性：0.05%
攝像頭
● 微焦距
● 500萬像素
準直器、濾光片
● 快拆卸準直器、濾光片系統
● 多種材質準直器
● 光斑大小Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可選
● 多種濾光片、準直器組合，軟件自動切換
其他配件
●進口高性能開關電源
●進口低噪聲、大風量風扇
● 外形尺寸：380 mm x 510mm x 365 mm （長x寬x高）
● 樣品倉尺寸：360mm×330 mm ×50 mm （長x寬x高）
● 儀器重量：33.5kg
● 供電電源：AC220V/ 50Hz
● 功率：330W
● 工作溫度：15-30℃
● 相對濕度：≤85%，不結露
●貴金屬中金銀銅含量檢測、貴金屬純度檢測、貴金屬回收等領域
●貴金屬中有害元素檢測
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