布魯克VERTEX70v研究級紅外光譜儀設計精良VERTEX70v光譜儀采用RockSolid™長久準直高性能干涉儀，能滿足從常規分析測量到科研領域的各種應用需求

布魯克VERTEX 70v研究級紅外光譜儀

設計精良

VERTEX 70v 光譜儀采用 RockSolid™ 長久準直高性能干涉儀，能滿足從常規分析測量到科研領域的各種應用需求。采用 UltraScan™ 真正準直干涉儀的 VERTEX 80 和 VERTEX 80v 是針對業內的科研應用設計的，它具備的光譜分辨率、能實現目前業內高水平的快速掃描和步進掃描測量，能在廣泛的光譜范圍內提供的性能。VERTEX 70v 及 VERTEX 80v 全真空系列光譜儀杜絕了大氣吸收對紅外測量的干擾，進一步提高光譜質量。

杰出的性能

- 高的光譜分辨率
- 高的信噪比
- 高的動鏡掃描速度
- 全真空、可吹掃或密封干燥式光學臺克服大氣干擾
- 最多的軟件可控外光路擴展接口
- 分束器更換簡單快捷、無需重新調整干涉儀，實現紫外、可見光、近紅外及遠紅外/太赫茲波段的譜區擴展
- 全自動識別所有光學配件及測量附件
- 強大的步進掃描/慢掃描功能滿足光譜的時間分辨及各種調制應用
- 具遠見性的設計可滿足當前及未來的各種拓展需求

譜區擴展

VERTEX 80 和 VERTEX 80v 可覆蓋從遠紅外或太赫茲10cm-1（VERTEX 80v 可達 5 cm-1）開始，經中紅外、近紅外、可見光到紫外光區 50,000 cm-1 的光譜區域。其的預準直光學配件及真正準直的 UltraScan™ 傅立葉干涉儀使擴展光譜區域變得十分簡易。通過采用全自動分束器更換器 BMS-c，您可以在不中斷紅外譜儀真空的情況下實現從太赫茲到紫外的整個光譜區域的自動切換。該全自動更換器可以同時容納四個不同的分束器，其具遠見的設計可以用來升級已安裝完備的 VERTEX 80v 光譜儀。另外，如果結合外接探測器擴展腔，客戶可以至多同時安裝 5 個不同類型的檢測器（室溫、液氮制冷或液氦制冷），并均由軟件操控，保證客戶在各個光譜區域都能選擇最合適的檢測器。

RockSolidTM 傅立葉紅外干涉儀

布魯克 RockSol id™ 高性能傅立葉干涉儀是VERTEX 70v 產品穩定、可靠的核心因素。該干涉儀采取鍍金鏡面和30°入射角改良設計，以實現高的通光效率和靈敏度，同時也極大限度地消除了偏振作用。其長久準直的設計保證了數據的高質量，使儀器的穩定性得到了保障，并摒棄了調整帶來的滯后。數字化的電子元件保證了干涉儀的精準控制，使譜儀具備的靈敏度和長久的穩定性。采用 DigiTect 技術的檢測器大大降低了電子噪音，使 VERTEX 70v 傅立葉紅外光譜儀成為日常分析和科學研究的理想選擇。

優異的光譜分辨率

VERTEX 70v 光譜儀標準的光譜分辨率優于0.4 cm-1，該分辨率可以滿足絕大多數固體、液體以及低溫下晶體樣品的測量。針對特殊的實驗要求，例如常溫下氣態樣品的測量，VERTEX 70v 系列光譜儀的分辨率可以升至 0.16 cm-1，通常情況下，該類光譜圖典型的半峰寬不會小于 0.2 cm-1。

高的光譜分辨率

標準配置下的 VERTEX 80 光譜儀可以提供優于0.2 cm-1（已采用切趾函數）的光譜分辨率。針對需要頂端分辨率的應用，VERTEX 80 光譜儀可以提供優于0.06 cm-1的分辨率。該高分辨率即便在高波數區也能實現，比如：在可見光區分辨能力ν/Δν（定義為波數/半峰寬）可以優于 300,000:1。該指標由布魯克提供，其他制造商僅能提供其光譜儀在中紅外光譜區位于2000 cm-1 的光譜分辨率。，高波數區測試對光譜分辨能力和光學精準度的要求更為苛刻，布魯克VERTEX 80在高波數區的杰出表現再次體現了布魯克光譜儀的精良制作和公司嚴謹的精神。