AtomTrace的Sci-Trace多元素化學分析系統利用當今前景的分析技術之一：激光誘導擊穿光譜（LIBS），實現了可模塊化、快速、簡便的使用操作,具有快速測定元素組成、高分辨率的二維化學成像及表面不均一的可視化、可進行層狀材料的深度分析等特點

Atom Trace的Sci-Trace多元素化學分析系統利用當今前景的分析技術之一：激光誘導擊穿光譜（LIBS），實現了可模塊化、快速、簡便的使用操作,具有快速測定元素組成、高分辨率的二維化學成像及表面不均一的可視化、可進行層狀材料的深度分析等特點。

◆高精度電動載物臺

• 3軸電動驅動

• 高真空環境

• 直接裝在滑門上

各式各樣的樣品架可以放置不同形狀和尺寸的樣品，系統會自動檢測樣品架型號，并在控制軟件的“樣品預覽”窗口中顯示.

◆樣品室

Sci-Trace有3種樣品室：

◆自定義您的實驗

• 總共多達15個腔室輸入端口

• 11個瞄準共同中心點

• 3種側板

• 1個大的觀察口（可過濾1064和532 nm波長）

安裝更多激光器可以實現雙脈沖/多脈沖LIBS ，來提高檢出限或者成像的分辨率；

安裝第二個光譜儀 同時分析不同的等離子體或捕獲更多不同分辨率的光譜區域；

安裝一些附加模塊 氣體模塊、相機模塊等；

安裝自己設計的模塊。

◆附加模塊-MPI基本輸入模塊

MPI是Sci-Trace的核心模塊，它可以將激光聚焦到樣品表面，并提供 軟件上的樣品視圖功能，通常安裝在樣品室的頂部。

◆附加模塊-MPR壓力調節模塊

MPR可以快速調節樣品室內的壓力，低壓和/或惰性氣體環境下，LIBS分析的信噪比會顯著提高，從而可以提高檢測限。MPR的主要組件隱藏在MPR架中，通過帶有電磁閥和過濾器的壓力軟管與真空樣品室和IO面板相連。

• 壓力范圍: 1-1300 mbar(a)

• 可以直接連接氣瓶

• 精確的自動壓力調節

• 內部壓力的外部指示器

• 排氣閥、安全閥、油/塵/污染物過濾器

◆附加模塊-輻射光譜收集模塊

MRC是有效收集等離子體輻射的光機系統

• UVFS/CaF₂ 可調多透鏡系統

• 光譜范圍 200-1000 nm

• SMA光纖輸出

• 安裝在一個端口上

◆附加模塊-MSC 輔助相機模塊

MSC是一個多功能相機模塊，可以在控制軟件中顯示實時圖像。

• 可變焦CMOS相機

• 外部觸發

• 適用于等離子成像或LIBS調節

• 安裝在一個端口上

不同壓力下等離子體的不同形狀

◆氣體模塊

MGE-抽氣模塊 

• 主動提取剝蝕下來的材料

• 過濾輸出

•安裝在一個端口上

MGP-氣體吹掃模塊

• 樣品表面清洗

• 創造局部惰性氣體環境

• 連續或觸發模式

•安裝在一個端口上

◆儀器托架

儀器托架承載著所有必要的LIBS部件和控制電子設備，并分為兩個隔間：儀器室和機架室。

◆控制軟件-Sci-Trace控制系統

Sci-Trace系統的控制軟件能夠控制樣品室和連接模塊的所有功能。

◆光譜處理軟件-AtomAnalyzer

AtomAnalyzer是LIBS的光譜處理軟件 帶有的功能結點庫設計將它們放在圖形化的 工作區中，并將它們相互鏈接， 以更直觀的方式來創建 光譜處理流程。 這種創新方法使標準且復雜的過程變得更快，更容易和更透明。