當前位置:儀器網 > 產品中心 > 化學分析儀器>光譜>紫外分光光度計、紫外可見分光光度計、UV> X3-I 掌上型多頻渦流檢測儀
返回產品中心>X3-I 采用了的數字電子技術,渦流技術及微處理機技術,能實時有效地檢測金屬材料缺陷、區分合金種類、熱處理狀態以及厚度變化等、無需遮光罩即可在陽光下清晰顯示。也采用了新型防護設計,可以有效地防止水和油對儀器的危害。X3-I 充分利用拇指的這一特性,實現一指操作。由于采用了數字電子技術以及微機技術,使得操作甚為簡單、方便。它為用戶提供了可靠、穩定、靈敏的高性能。
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