品名:X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT9100M型號:SFT9100M概要是利用熒光X射線原理的鍍膜厚度測量計

品名: X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT9100M
型號: SFT9100M 概要 是利用熒光X射線原理的鍍膜厚度測量計。可以測定結構部件有凹凸的樣品和印刷基板等大面積樣品。對照采用激光射線的Z軸方向的焦點，可以發揮測定值的再現性。而且物美價廉。
特長
1.操作非常簡單。
2.運用激光焦點的功能，簡單的調整位置。
3.針對有凹凸的樣品也搭載了放心的防止沖突傳感器。
4.搭載焦點切換機構，可以對高的樣品的低部分進行測定。(任意選擇)
5.采用可以測定大型打印基板的狹小間隙機構。