TalosF200XG2TEM適用于高分辨率TEM和STEM表征以及準確化學定量的TEM顯微鏡

Talos F200X G2 TEM

適用于高分辨率 TEM 和 STEM 表征以及準確化學定量的 TEM 顯微鏡。

Thermo Scientific Talos F200X (S)TEM 是一款（掃描）透射電子顯微鏡，其將出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像與業界的能量色散 X 射線光譜 (EDS) 信號檢測相結合。采用構合映射的 2D/3D 化學表征由 4 個內置 SDD Super-X 探頭執行。Talos F200X (S)TEM 在所有維度下均可實現速精確的 EDS 分析，以及在進行動態顯微鏡檢查時實現導航快速的高分辨率 TEM 和 STEM（HRTEM 和 HRSTEM）成像。Talos F200X (S)TEM 還具有較低的環境敏感度；儀器外殼可調節 TEM 室中空氣壓力波、氣流和細微溫度變化的影響。

(S)TEM 成像和化學分析的高分辨率和高通量

Talos F200X (S)TEM 可在多維度下對納米材料進行快速、精確的定量表征。由于具有旨在提高通量、精度和易用性的創新功能，Talos F200X (S)TEM 是院校、政府、半導體以及工業環境高級研究和分析的理想選擇。

最近對在高分辨率下進行大面積相關性成像的需求有所增加，因為這使研究人員在獲得統計學上穩定的數據的同時也能保留其觀測結果的背景。Thermo Scientific Maps 軟件（由 Thermo Scientific Velox 軟件啟用）自動采集樣品的一系列圖像，并將它們拼接在一起以形成一幅大尺寸最終圖像。圖像采集甚至可以在無人值守的情況下執行。

Thermo Scientific Avizo 軟件讓研究人員可以通過自動話工作流程進行即時處理來執行圖像分析，以及生成納米顆粒大小、表面積、周長、分布和化學成分等統計數據。來自不同顯微鏡的圖像和化學信息可以關聯起來以保留相關背景。

Align Genie 自動化軟件減輕了新手操作員的學習負擔，緩解了多用戶環境中的緊張氣氛，并為經驗豐富的操作員縮短了數據獲得周期。

主要特點：

直觀的軟件

Thermo Scientific Velox 軟件可實現對多模式數據的快速、輕松的采集和分析。

更短的化學成分獲得周期

快速、精確的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示納米級細節，同時保持高潔凈度。

更好的圖像數據

高通量 STEM 成像采用同步多信號檢測，可為高質量圖像提供更高的對比度。

Maps 軟件

Thermo Scientific Maps 軟件可通過即時處理以高分辨率進行自動化大面積圖像和分析數據采集。

更多空間

為動態實驗添加特定用途的原位樣品桿。

高質量 (S)TEM 圖像和準確的 EDS

通過創新且直觀的 Velox 軟件用戶界面采集高質量的 TEM 或 STEM 圖像。Velox 軟件中的 EDS 吸收校正功能可實現極準確的定量。  

高度可重復的數據采集

所有日常 TEM 調整、例如聚焦、共心高度、電子束移位、冷凝器光闌、電子束傾斜樞軸點和旋轉中心都是自動進行的，確保您始終從成像條件開始工作。實驗可以能夠再現的方式重復進行，從而使您能夠專注于研究而非儀器操作。

提高了生產率

超穩定的色譜柱、借助 SmartCam 的遠程操作和恒定功率物鏡，可進行快速模式和高電壓 (HT) 切換。多用戶環境的快速輕松切換。

性能數據

應用

采用電子顯微鏡進行過程控制

現代工業需求高通量、質量、通過穩健的工藝控制維持平衡。SEM 和 TEM 工具結合專用的自動化軟件、為過程監控和改進提供了快速、多尺度的信息。

質量控制和故障分析

質量控制和保證對于現代工業至關重要。我們提供一系列用于缺陷多尺度和多模式分析的 EM 和光譜工具、使您可以為過程控制和改進做出可靠、明智的決策。

基礎材料研究

越來越小的規模研究新型材料、以限度地控制其物理和化學特性。電子顯微鏡為研究人員提供了對微米到納米級各種材料特性的重要見解。

半導體探索和開發
的電子顯微鏡、聚焦離子束和相關分析技術可用于識別制造高性能半導體器件的可行解決方案和設計方法。

良率提升和計量

我們為缺陷分析、計量學和工藝控制提供的分析功能、旨在幫助提高生產率并改善一系列半導體應用和設備的產量。

半導體故障分析
越來越復雜的半導體器件結構導致更多隱藏故障引起的缺陷的位置。我們的新一代工作流程可幫助您定位和表征影響量產、性能和可靠性的細微的電子問題。

物理和化學表征

持續的消費者需求推動了創建更小型、更快和更便宜的電子設備。它們的生產依賴高效的儀器和工作流程，可對多種半導體和顯示設備進行成像、分析和表征。