十二年來(lái)，蔡司工業(yè)CT METROTOM系列一直為質(zhì)量控制提供可靠的CT技術(shù)。第三代計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)系統(tǒng)蔡司METROTOM 1500很好地證明了可靠的X射線技術(shù)不再是未來(lái)的愿景。今天，您可以使用面向未來(lái)的質(zhì)量控制。
蔡司METROTOM 1500(第2代與第3代)中鋁制部件的圖像比較。由于體素尺寸較小，新的3K檢測(cè)器可以以更高分辨率清晰顯示更小的細(xì)節(jié)。
看得更多
在第三代系統(tǒng)中，新的3k檢測(cè)器可生成更高分辨率的3D體數(shù)據(jù)集，即更多體素可以檢測(cè)到更小的缺陷。
掃描更快
通過(guò)檢測(cè)器的不同操作模式，掃描時(shí)間可減少多達(dá)75%，同時(shí)獲得與2k檢測(cè)器相當(dāng)?shù)捏w素尺寸。
使用蔡司METROTOM輕松進(jìn)行測(cè)量
測(cè)量與檢驗(yàn)整體部件
蔡司工業(yè)CT METROTOM是一種工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，用于測(cè)量和檢查由塑料或輕金屬制成的完整部件。而在利用傳統(tǒng)測(cè)量機(jī)測(cè)量時(shí)，此類隱藏性的結(jié)構(gòu)信息只有將零件通過(guò)費(fèi)時(shí)的層層破壞方能獲得。
輕松且精準(zhǔn)地進(jìn)行多樣化特征檢測(cè)
利用蔡司METROTOM 計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)可一次掃描海量的零部件特征。這些測(cè)量結(jié)果非常精確，且具可追溯性。和接觸式測(cè)量方法不同，蔡司METROTOM 獲取海量測(cè)量點(diǎn)時(shí)，時(shí)間顯著縮短。
直觀簡(jiǎn)易的軟件操作
僅需通過(guò)短時(shí)間的蔡司METROTOM OS 軟件培訓(xùn)課程，操作人員即可對(duì)零件進(jìn)行掃描，透視零件的內(nèi)部。通過(guò)蔡司CALYPSO和NEO軟件，您可以評(píng)估CT數(shù)據(jù)，通過(guò)蔡司PiWeb，它們可以在一個(gè)測(cè)量報(bào)告中快速合并。
