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Axio Imager 2研究級材料顯微鏡

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研究級材料顯微鏡Axio Imager 2材料顯微鏡 Axio Imager 2用于材料樣品的高質量顯微分析和表征,如金相試樣自動分析,高分子樣品的質量控制,地質樣品的偏光分析,由于其優異的光學質量和強大的功能,是實驗室分析和工業研發的研究型解決方案。用于材料研究的顯微分析系統操作簡便的顯微分析工作流程——正置顯微鏡Axio Imager 2可確保為質量控制和流程控制提供準確和可重復的

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研究級材料顯微鏡Axio Imager 2

材料顯微鏡 Axio Imager 2用于材料樣品的高質量顯微分析和表征,如金相試樣自動分析,高分子樣品的質量控制,地質樣品的偏光分析,由于其優異的光學質量和強大的功能,是實驗室分析和工業研發的研究型解決方案。


用于材料研究的顯微分析系統

操作簡便的顯微分析工作流程——正置顯微鏡Axio Imager 2可確保為質量控制和流程控制提供準確和可重復的結果。

正置顯微鏡Axio Imager 2具有出色的光學性能和均勻的照明。襯度管理器和光強管理器始終確保定義的條件和可重現的結果。使用ACR自動檢測和配置Axio Imager.Z2m的物鏡和襯度模塊。

四種不同的機座供您選擇,通過專門的解決方案可擴展應用:顆粒度分析、關聯顯微分析或共聚焦顯微系統LSM 900。



  • 出色的光學系統,同時滿足高對比度及高分辨率的雙重要求

  • 采用模塊化設計理念,通過一系列用于增強靈活性的電動和編碼組件,實現更高的靈活性

  • 穩定的機座設計和無振動的工作狀態,確保結果的可重復性。

  • 通過蔡司LSM 900激光掃描共聚焦模塊可對Axio Imager 2進行升級

  • Axio Imager 2可用于關聯顯微分析和顆粒度分析

  • 借助其自動化功能,可在質量控制和流程控制中實現結果精準再現。

  • 蔡司顯微鏡



蔡司顯微鏡

襯度

提供多種技術選擇

掌握研究方向并檢查多種材料。可對金屬結構、復合材料、玻璃、木材和陶瓷進行分析。可檢查聚合物、液態晶體。

提供多種對比技術選擇,可從中獲得更多信息。使用反射光明場、暗場、微分干涉(DIC)、圓微分干涉(C-DIC)、偏振光或熒光觀察樣品。使用透射光明場、暗場、微分干涉(DIC)、偏振光或圓偏振光檢查樣品。

襯度管理器可確保Axio Imager 2照明設置的重復性。


蔡司顯微鏡

人體工程學設計

多元化設計

Axio Imager.Z2m或Axio Imager.M2m的觸控屏可顯示關鍵的操作功能,用指尖即可控制所有的電動組件。

額外的控制按鈕人性化地分布在調焦旋鈕附近,通過觸感表面易于區分。

Axio Imager.D2m上配有5個預編程的按鈕,Axio Imager.Z2m上配有10個用戶自定義按鈕。


蔡司顯微鏡

熱顯微分析

靈活記錄溫度變化

您是否希望研究溫度對金屬、晶體、陶瓷或塑料性能的影響?

通過AxioVision和Linkam加熱載物臺,您可以定義加熱或冷卻實驗。以時間序列方式記錄溫度變化模式。最終獲得每個時序圖像中溫度和真空數據的日志。在加熱或冷卻過程中觀察樣品的變化,例如在質量控制領域。



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