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DJM-300系列太陽能硅片檢測顯微鏡，選用優(yōu)質(zhì)的光學元件，配有超大視場目鏡、落射照明器、平場長工作距離明暗場物鏡，是針對半導體晶圓檢測、太陽能硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、治金工業(yè)開發(fā)的，作為工業(yè)金相顯微鏡使用。
太陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300C
一、DJM-300C太陽能硅片檢測顯微鏡的特點和用途:
DJM-300系列太陽能硅片檢測顯微鏡，選用優(yōu)質(zhì)的光學元件，配有超大視場目鏡、落射照明器、平場長工作距離明暗場物鏡，是針對半導體晶圓檢測、太陽能硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、治金工業(yè)開發(fā)的，作為高級工業(yè)金相顯微鏡使用。可進行明暗場觀察、落射偏光、廣泛用于工廠、研究機構(gòu)、高等院校對太陽能電池硅片、半導體晶圓檢測、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析。系統(tǒng)配置了優(yōu)質(zhì)無限遠光路系統(tǒng)、三目透反射顯微鏡DJM-300C、500萬高清晰數(shù)字攝像頭及圖像測量管理軟件，可對太陽能電池板圖像進行檢查、拍照、測量、編輯和保存輸出等多種操作。是太陽能電池硅片檢查的理想儀器。
性能特點：
1、采用了較的光學顯微鏡與現(xiàn)代成像分析融為一體的圖像測量技術。
2、可對太陽能電池硅片進行檢查、拍照、測量、保存、輸出等多種操作。
3、系統(tǒng)配置了優(yōu)質(zhì)無限遠光路系統(tǒng)、大尺寸工作臺的三目透反射顯微鏡
4、可以測量太陽能電池片裂紋長度，崩邊長度角度，印刷位移角度偏差
5、可以測量主、副柵線，背電極的寬度、均勻度、柵線間距離及副柵線
到電池邊的距離，柵線、斷線長度，斷線缺損和變色的面積
6、可以檢查太陽能電池表面顏色色差、絨面色斑亮斑，裂紋，崩邊，掉
角缺口，印刷偏移主副柵線、背電極的斷線，缺損，扭曲，變色等現(xiàn)象。
7、可對雜質(zhì)、殘留物成分進行分析。雜質(zhì)包括: 顆粒、有機雜質(zhì)、無機雜
質(zhì)、金屬離子、硅粉粉塵等。
。
二、太陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300C的技術參數(shù):
型號 技術規(guī)格 目鏡筒 鉸鏈式三目鏡,傾斜30?,內(nèi)置檢偏振片,可進行切換 ；瞳距調(diào)節(jié)范圍 55-75mm,屈光度±5可調(diào)。 目鏡 WF10X(Φ22mm) 物鏡 無限遠長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)PL 5X/0.12 工作距離:26.3mm 無限遠長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)PL L10X/0.25 工作距離:20.2mm 無限遠長距平場消色差物鏡(無蓋玻片) PL L40X/0.60（彈簧） 工作距離：3.98 mm 無限遠長距平場消色差物鏡(無蓋玻片) PL L60X/0.70（彈簧） 工作距離：3.18 mm 無限遠長距平場消色差物鏡(無蓋玻片) PL L100X/0.85（彈簧） 工作距離：0.40 mm 落射照明系統(tǒng) 6V 30W鹵素燈,亮度可調(diào) 落射照明器帶 (黃,藍,綠)濾色片和磨砂玻璃 視場光欄和孔徑光欄大小可調(diào)節(jié)，可插入式起偏振片，可進行偏光觀察和攝影 透射照明系統(tǒng) 阿貝聚光鏡 NA.1.25 可上下升降 。藍濾色片和磨砂玻璃 集光器，鹵素燈照明適用(內(nèi)置視場光欄) ，6V 30W 鹵素燈,亮度可調(diào) 調(diào)焦機構(gòu) 粗微動同軸調(diào)焦, 微動格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置 轉(zhuǎn)換器 五孔(內(nèi)向式滾珠內(nèi)定位) 載物臺 雙層機械移動式(尺寸:210mmX140mm,移動范圍:75mmX50mm) 電腦攝像系統(tǒng) 1X攝影接口，標準C接口， CK-500數(shù)字攝像系統(tǒng)，分辨率：2592X1944， 芯片尺寸：1/2.5"， USB2.0連接, 圖像質(zhì)量好 ,色彩還原性好 ,圖像穩(wěn)定，有多種圖像處理方式（詳細參數(shù)見CK-500攝像機介紹） 測量軟件功能： 1、可進行圖像尺寸、亮度、增益、曝光、RGB顏色等多種處理方法。 2、當前圖像放大、縮小、剪切、背景等設置。 3、對圖像中的點、線、圓、圓弧、角度、矩形及任何圖形幾何參數(shù)的測量。測量工具使用方便直觀。是顯微圖像測量與分析的有效工具。
三、系統(tǒng)的組成 ：
1、太陽能硅片檢測顯微鏡DJM-300 2、電腦適配鏡
3、彩色數(shù)字攝像機CK-500 4、計算機(選購)
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