結合光鏡和電子顯微鏡來描述和分類粒子。相關粒子分析(CAPA)可以在較短的時間內獲得更多的信息。通過結合光鏡和電子顯微鏡,你釋放了兩個系統(tǒng)的全部性能。分析粒子使用你的電動光學顯微鏡:AxioZoom。V16和Axio成像儀。Z2m提供了顆粒數量、尺寸分布、形貌和顏色的信息。通過偏振對比,可以區(qū)分金屬和非金屬粒子。然后在你的電子顯微鏡中識別出臨界粒子并重新定位它們。用x射線能譜儀(EDS)自動測定了
結合光鏡和電子顯微鏡來描述和分類粒子。
相關粒子分析(CAPA)可以在較短的時間內獲得更多的信息。
通過結合光鏡和電子顯微鏡,你釋放了兩個系統(tǒng)的全部性能。
分析粒子使用你的電動光學顯微鏡:Axio Zoom。
V16和Axio成像儀。
Z2m提供了顆粒數量、尺寸分布、形貌和顏色的信息。
通過偏振對比,可以區(qū)分金屬和非金屬粒子。
然后在你的電子顯微鏡中識別出臨界粒子并重新定位它們。
用x射線能譜儀(EDS)自動測定了粒子的物質組成。
光鏡和電子顯微鏡分析的結果將合并在一份報告中。
根據您的需求配置
顯微鏡
光學顯微鏡:Axio Zoom。
V16 Axio成像儀。
Z2m電子顯微鏡:EVO, Sigma, MERLIN, GeminiSEM
軟件
AxioVision
軟件模塊:ZEISS相關粒子分析儀(CAPA)和MosaiX
SmartSEM
SmartPI
配件
樣品支架為47毫米或50毫米顆粒過濾器適配器板
校準標志
可選適配器框架
簡單。更聰明。更多的集成。
?描述過程關鍵粒子和識別殺手粒子。
首先用你的光學顯微鏡捕獲粒子,然后再用你的電子顯微鏡和EDS分析找到它們
材料組成的信息。
?capa自動為您提供一份報告,該報告集成了您的光鏡和電鏡分析結果。
?畫廊和評估視圖提供了一個快速的概述
所有粒子類型:反射,非反射和纖維。
查看所有分類和ISO代碼一目了然。
?點擊一個按鈕,選擇并重新定位有趣的粒子。
?與背靠背進行光和電子顯微鏡分析相比,您的結果可獲得*達10倍的速度。
為您的應用程序創(chuàng)建
?潔凈度分析確保正常功能,并驗證部件的潔凈度。
?分析油液和制動液中的顆粒大小從2 μm到
防止過濾器、噴嘴和閥門污垢,以及油老化、裂縫、泄漏或泵故障。
?使用EDS分析,自動確定多達200個*大的顆粒或多達200個顆粒的化學組成在選定的尺寸范圍。
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