JX系列大工作平臺半導體檢查顯微鏡,采用研究級顯微鏡R照明系統和光學系統,人機工程學設計全面提升,照明均勻,成像清晰,為用戶提供更加舒適、靈活、快捷的操作體驗
JX系列大工作平臺半導體檢查顯微鏡,采用研究級顯微鏡R照明系統和光學系統,人機工程學設計全面提升,照明均勻,成像清晰,為用戶提供更加舒適、靈活、快捷的操作體驗。突破性的大金相機架設計,支持 300mm 晶圓及 17英寸液晶面板的檢查,含 8、12英寸多種轉盤,可適用不同尺寸的晶圓檢查。
光學系統 | 無限遠色差校正光學系統 | |
觀察方式 | 明場/暗場/偏光/DIC | |
觀察筒 | 30°傾斜 | 0°- 35°傾斜 |
正像,無限遠鉸鏈式三通觀察筒,瞳距調節:50-76mm, 分光比:100:0或0:100 | ||
目鏡 | 高眼點大視野平場目鏡PL10X/25mm,視度可調 | |
物鏡 | 明暗場半復消金相物鏡5X、10X、20X、50X | |
轉換器 | 明暗場五孔轉換器,帶DIC插槽 | |
調焦機構 | 反射式機架,前置低手位粗微同軸調焦機構。粗調行程33mm,微調精度0.001mm;帶有防止下滑的調節松緊裝置和隨機上限位裝置,內置100-240V寬電壓系統。 | |
載物臺 | 8英寸三層機械移動平臺: 平臺面積525mm×330mm 移動范圍:210mm×210mm | 12×14英寸機械移動平臺: 平臺面積420mm×718mm, 移動范圍:305mm×356mm; |
低手位X、Y方向同軸調節;帶離合器手柄,可用于全行程范圍內快速移動;玻璃載物臺板,(反射用) | ||
晶圓輔助臺 | 選配 | |
反射照明系統 | 明暗場反射照明器,帶可變孔徑光闌,視場光闌,中心均可調;帶明暗場照明切換裝置; 帶濾色片插槽與偏光裝置插槽
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攝影攝像 | 0.5X/0.65X/1X攝像接筒,C型接口,可調焦 | |
其他 | 起偏鏡插板,固定式檢偏鏡插板,360°旋轉式檢偏鏡插板;DIC微分干涉組件; 反射用干涉濾色片組;高精度測微尺 |
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