M2可應用于多種材料的分析。
01 小巧、輕便、精致、可靠的儀器結構，具有同類型直讀光譜儀準確的分析數(shù)據(jù)。
02 超小設計的光學室結構及優(yōu)化設計的氬氣吹掃系統(tǒng)，保證紫外區(qū)元素譜線的透過率。
03 應用高分辯多CMOS讀出系統(tǒng)，較低的暗電流、較好的檢出限、較高的穩(wěn)定性、較強的靈敏度。
04 全數(shù)字化的智能復合光源DDD技術，充分滿足不同基體、不同樣品以及不同元素的激發(fā)要求。
05 FPGA數(shù)據(jù)采集及以太網(wǎng)網(wǎng)絡數(shù)據(jù)傳輸技術，保證數(shù)據(jù)一致性及數(shù)據(jù)傳輸速率。
06 內置工廠校正曲線及曲線擴展技術，滿足不同材料的技術要求。
07互聯(lián)網(wǎng)網(wǎng)絡技術及數(shù)據(jù)云儲存。
08 操作簡單、維護成本低、質量可靠。
09 竟爭力的價格。
精密設計的氬氣吹掃系統(tǒng)
光室密封性強，可保持內部氬氣長期純凈。
光室空間優(yōu)化設計，降低氬氣消耗，有效節(jié)約產(chǎn)生成本。
低氬氣吹掃系統(tǒng)，確保光室UV波段測量環(huán)境。
光室充氬免除復雜的真空系統(tǒng)。
高分辯率CMOS檢測器實現(xiàn)全譜分析
譜線覆蓋了所有的重要元素，滿足所有基體和材料的分析。
高靈敏的紫外區(qū)檢測，對N的分析檢測更準確。
可有效選擇元素靈敏線，保證分析的準確度。
多峰擬合技術，有效消除譜線干擾，實現(xiàn)精準測量。
分析軟件功能強大
1)基于Windows系統(tǒng)的多國語言的CCD全譜圖形化分析軟件，方便實用；
2)管理的控制整個測量過程及為用戶提供強大的數(shù)據(jù)處理能力和測試報告輸出能力；
3)儀器可配置多條工廠校正曲線及更多材質分析及解決方案；
4)軟件實現(xiàn)全譜檢測、智能扣干擾、扣暗電流、背景和噪聲的算法，提高儀器的分析能力；
5)完備的自動系統(tǒng)診斷功能；
6)完善的數(shù)據(jù)庫管理功能，可方便查詢、匯總數(shù)據(jù)；
7)智能校正算法，保證儀器穩(wěn)定可靠；
8)完備的譜線信息和干擾扣除算法，保證儀器分析更為精準；
9)適應Windows操作系統(tǒng)。
