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自動對焦表面形貌測量設備

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具體成交價以合同協議為準

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該型激光式輪廓儀主要用于復雜小零件,超微型器件以及智慧型電子設備用微小鏡片的尺寸量測。對于這類被測物的需求特點,該社針對性的開發出了特別的測量方法。該方法利用點自動對焦探頭(PAP)的高角度追蹤能力,使激光光軸傾斜,可達到小零件難于測量的內圓部,同時也兼具傾角測量功能,可測量亞微米級工件的截面輪廓,圓周輪廓和三維輪廓,且無需設置測量條件,直接進行重新定位。

詳細信息 在線詢價

測量原理及特點:

                                                     點自動對焦分析原理

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           1. 大的測量范圍/ 高精度測量.

2. 優異的角度跟蹤能力.

3. 快速3D測量

4. 符合粗糙度測量標準.

5. 自動對焦掃描實現快速表面形貌的測量.

6. 對測量工件表面顏色及反射率無要求.

7. 豐富的測量功能.


部分測量范例:

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基本規格參數:


a 自動對焦傳感器


            1. 激光點尺寸: D = 1 μm (at 100X )     半導體激光o/p=1 mW , Max A:635m (Class 2)

 2. AF 重復性: σ = 0.03 μm


b 測量對象

1 2D/3D表面形貌

2. 平整度

3. 3D/輪廓

4. 翹曲度


c 掃描范圍

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更多型號及各類不同特殊應用請隨時咨詢我司人員進行交流咨詢,以便提供給您更加精準的型號配置推薦。


測量原理及特點:

                                                     點自動對焦分析原理

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           1. 大的測量范圍/ 高精度測量.

2. 優異的角度跟蹤能力.

3. 快速3D測量

4. 符合粗糙度測量標準.

5. 自動對焦掃描實現快速表面形貌的測量.

6. 對測量工件表面顏色及反射率無要求.

7. 豐富的測量功能.


部分測量范例:

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基本規格參數:


a 自動對焦傳感器


            1. 激光點尺寸: D = 1 μm (at 100X )     半導體激光o/p=1 mW , Max A:635m (Class 2)

 2. AF 重復性: σ = 0.03 μm


b 測量對象

1 2D/3D表面形貌

2. 平整度

3. 3D/輪廓

4. 翹曲度


c 掃描范圍

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