西安佰人科技有限公司研發的半導體分立器件測試系統是國內的可測試超大功率器件的產品。該系統充分吸收測試系統的特點，采用了的嵌入式計算機技術和優化結構技術、16位并行A/D和D/A技術、多級開爾文反饋技術、小信號精密測試技術以及現已申報國家技術發明的經過驗證的功率源和陣列開關結構技術，并選用優質材料制作。在系統設計、選材、工藝、制作、調試、校驗等諸多方面與國內現有同類系統相比均有較大突破，從而大大提高了系統的技術性能和可靠性，保證了該系統各項技術性能指標處于、的地位。其主要特點是提供的測試電壓高，測試電流大，測試種類多且測試項目全。
a） 系統配置高。其中：
該系統高壓可配置2KV選件，可將產品陽-陰極、陽-控極截止態擊穿電壓測試范圍和測試漏電流電壓設置到2KV。
系統配置HCD大電流選件可將系統產品陽-陰極間通態參數測試電流范圍從50A擴展到400A；BR3500產品陽-陰極間通態參數測試電流范圍可從50A擴展到400A/500A/1000A/1250A
/2500A。
b） 測試種類多。BR2500能夠測試12大類品種；BR3500能夠測試19大類品種。
c） 測試項目全、精度高。系統配置HCD大電流選件可以完成大于50A全直流參數的智能化精密測試，測試的IGBT參數包括：ICES、BVCES、IGESF、IGESR、VGETH、VGEON、VCESAT、ICON、VF、GFS、rCE等全直流參數, 所有小電流指標保證1%重復測試精度, 大電流指標保證2%以內重復測試精度。

BR3500-2KV/200A半導體分立器件測試系統
1）主要技術參數
系統主要技術參數列表如下：
主極電壓 2000V
主極電流 200A
控制極電壓 20V
控制極電流 10A
電壓分辨率 1mV
電流分辨率 100pA
測試速度 5ms/參數
2）可測試器件種類
該系統是專為測試大功率半導體分立器件而設計。它具有十分豐富的編程軟件和強大的測試能力，能夠真實準確測試以下19個類型的半導體器件以及相關器件組成的組合器件、器件陣列：
1) 二極管 DIODE
2) 晶體管 TRANSISTOR（NPN型/PNP型）
3) 穩壓（齊納）二極管 ZENER
4) 結型場效應管 J-FET （N-溝/P-溝，耗盡型/增強型）
5) MOS場效應管 POWER MOSFET（N-溝/P-溝）
6) 三端穩壓器 REGULATOR（正電壓/負電壓，固定/可變）
7) 光電耦合器 OPTO-COUPLER（NPN型/PNP型）
8) 可控硅整流器（普通晶閘管） SCR
9) 雙向可控硅 （雙向晶閘管） TRIAC
10) 絕緣柵雙極大功率晶體管 IGBT（NPN型/PNP型）
11) 光電邏輯器件 OPTO-LOGIC
12) 雙向觸發二極管 DIAC
13) 固態過壓保護器 SSOVP
14) 光電開關管 OPTO-SWITCH
15) 硅觸發開關 STS
16) 繼電器 RELAY
17) 金屬氧化物壓變電阻 MOV
18) 壓變電阻 VARISTOR
19) 達林頓陣列 DARLINTON

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