利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質量控制
利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質量控制。
X-Strata是結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。
它在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。
鍍層測厚儀X-Strata系列提供：
使用功能強大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量，保證質量的同時降低成本。
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