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- 公司名稱 北京華爾達科貿有限責任公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 北京市
- 廠商性質 其他
- 更新時間 2024/7/16 15:10:42
- 訪問次數(shù) 110
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X射線熒光分析法的原理·特點圖為用波爾模型說明電子軌道和熒光X射線產生的原理X射線熒光的產生原理X射線管發(fā)出X射線照射樣品,樣品中所含的原子則向外發(fā)射原子的X射線
滿足所有領域不同的應用 ■ 電子·電氣 ■ 汽車·機械 ■ 鋼鐵·非金屬 ■ 礦業(yè) ■ 窯業(yè) ■ 石油·石油化學 ■ 化學工業(yè) ■ 環(huán)境 ■ 醫(yī)藥 ■ 農業(yè)·食品 ■ 其它 460mm寬的緊湊身材,配備大容量的樣品室 460mm寬的緊湊身材,與我公司以往機型相比尺寸減少20%。 簡潔的界面 在測定界面上可以直接切換準直器 自動保存樣品圖像 測定結束后,與樣品畫面一起,元素名、濃度、3δ(測定的標準偏差)均會在同一界面清楚顯示。輕松點擊鼠標,即可看到《分析結果一覽》或《報告》。 使用轉臺時的測定準備畫面(樣品位置確認時) 同樣適用于連續(xù)分析 PCEDX Navi同樣可應對使用轉臺(選購件)的分析。 采用高性能的SDD檢測器,確保硬件化,具有的高靈敏度·高速分析和高分辨率。可以檢測出6C~的機型正式上線(EDX-8000/8100)。 高靈敏度 –提高檢測下限1.5~5倍- 高性能的SDD檢測器與化的光學系統(tǒng)和一次濾光片的組合,實現(xiàn)的高靈敏度。 高速 –分析速度可提高10倍- SDD檢測器在單位時間內X射線熒光的計數(shù)率高,因此能夠在更短的檢測時間內進行高精度分析。特別是對金屬材料的分析,這個特點可以得到限度的發(fā)揮。 測定時間與標準偏差(定量值偏差)的關系 實際樣品的比較 分別用以往型號和EDX-7000/8000/8100對無鉛焊錫中所含的鉛(Pb)進行分析,比較重現(xiàn)性。 高分辨率 無需液氮 SDD檢測器為電子制冷方式,無需液氮冷卻。不僅可以從繁瑣的液氮補充作業(yè)中解放出來,更可以降低儀器的維護成本。 檢測元素范圍 · 用EDX-7000/8100進行15P以下的輕元素分析時,需要真空檢測單元或者氦氣置換檢測單元(均為選購件)。 從微小樣品到大型樣品,從粉末樣品到液體樣品,靈活應對各類樣品。 使用一次濾光片降低X射線管產生的特性X射線和連續(xù)X射線,從而提升檢測靈敏度。尤其分析微量元素時有效。 *使用濾光片后,()中能量范圍的背景降低。 準直器和一次濾光片獨立驅動,無限制自由組合。可以選擇6種×4種=24種組合。 樣品無損且無需前處理,通過X射線熒光,即可簡單輕松實現(xiàn)對醫(yī)藥品中雜質的管理 遵照制藥界的FDA 21CFR Part11標準 遵照FDA 21CFR Part11具有如下功能。 安全功能 通過ID/密碼進行用戶認證,對具有權限的用戶 逐位跟蹤日志的生成功能 可以生成分析裝置設定更改履歷和用戶的操作履歷等跟蹤日志。 以提升效率為目標,使用LabSolutions CS進行數(shù)據(jù)管理 包括其它分析裝置的的全部分析數(shù)據(jù)都可以通過服務器電腦的數(shù)據(jù)庫進行管理,因此聯(lián)網后任何電腦都可讀取數(shù)據(jù)。不論何處都可實現(xiàn)數(shù)據(jù)管理統(tǒng)合化。 X射線熒光分析法的原理·特點
·RoHS指令、無鹵素等篩選分析
·半導體、存儲裝置、液晶、太陽能電池等各種薄膜分析
· 應對ELV指令的篩選分析
· 各種機械零部件結構分析及鍍層厚度、化學合成外膜附著量的檢測
· 原材料、合金、焊錫、貴金屬的主要成分、殘余成分的分析
· 爐渣的組成分析
· 選礦工藝的成色鑒別分析
· 陶瓷、水泥、玻璃、磚、粘土的分析
· 油中硫元素的分析
· 潤滑油中各種添加元素及混入元素的分析
·無機·有機原料和產品分析
·催化劑、顏料、涂料、橡膠、塑膠的分析
· 土壤、排水、焚燒灰、過濾、PM2.5等成分分析
· 合成時的殘留催化劑分析
· 原藥中不純物分析、異物分析
· 土壤、肥料、植物的分析
· 食品的原料分析、添加元素管理、混入異物的分析
· 考古學樣品及寶石成分分析
玩具·日用品中有害重金屬元素測定等有設計感的外觀
而緊湊的機身,卻擁有可放置200(W)×275(D)×約100(H)mm樣品的大型樣品室。“初次見面”也可輕松上手的軟件PCEDX Navi
在一個界面內可以同時顯示樣品圖像、選擇分析條件、輸入樣品名稱。
可以一邊觀察樣品圖像,一邊切換準直器直徑。
同時,選定的直徑用黃色圓圈表示。
測定開始時自動讀取樣品圖像,與數(shù)據(jù)文件夾關聯(lián)保存。
可以輕松切換樣品圖像確認界面和樣品位置確認界面。的分析性能
從輕元素到重元素,全范圍輕松應對。與采用傳統(tǒng)Si(Li)半導體檢測器的分析裝置相比,靈敏度也更勝。
· 用EDX-8000進行15P以下的輕元素分析時,需要真空檢測單元(選購件)。的通用性
配備進行輕元素的高靈敏度分析時所需的真空檢測單元、氦氣置換檢測單元,以及可實現(xiàn)自動連續(xù)測定的12位樣品轉臺(選購件)。4種準直器以及CCD樣品觀察裝置
自動切換5種一次濾光片
EDX-7000/8000/8100搭載5種(含OPEN共6種)一次濾光片,可以實現(xiàn)軟件操控自動切換。濾光片 有效能量(KeV) 對應元素示例 #1 15~24 Zr, Mo, Ru, Rh, Cd #2 2~5 Cl, Cr #3 5~7 Cr #4 5~13 Hg, Pb, Br #5 21~24(5~13)* Cd (Hg, Pb, Br) 準直器和一次濾光片自由組合
同時,所有組合均可對應FP法進行定量分析。分析只需4 Step!
主要特長
? 安全功能
? 用戶管理功能
? 操作日志,逐位跟蹤日志的生成功能
? PDF生成功能
? 驗證功能
開放操作履歷記錄、界面鎖定等功能。使用EDX-7000/8000/8100,輕松實現(xiàn)對醫(yī)藥品中的金屬進行分析
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