世界250μm微區分布成像分析功能！XRF-1500/1700系列X射線熒光光譜儀是在世界上首先開發出微區分析/分布分析功能，并采用了4KW薄窗X射線管，擴大了X射線熒光分析的應用領域，作為具有革命性的儀器而得到了很高評價，業已銷售200余臺
世界250μm微區分布成像分析功能！ XRF-1500/1700系列X射線熒光光譜儀是在世界上首先開發出微區分析/分布分析功能，并采用了4KW薄窗X射線管，擴大了X射線熒光分析的應用領域，作為具有革命性的儀器而得到了很高評價，業已銷售200余臺。 可分析不均勻樣品的含量分布、強度分布。 高次譜線的判定更加準確，提高了定性定量分析的準確度/可靠性。 利用康普頓散射/瑞利散射的強度比計算出熒光X射線分析不能得到的氫（H）元 素的信息。高分子薄膜分析中，利用康普頓散射線的理論強度作為高分子薄膜 的信息。 · 微區分析結構 · 利用CCD相機可以直接觀察樣品（選配件） · 配備高可靠性、長壽命的4kW薄窗Ｘ射線管 · 集成島津技能精華的模塊功能,匹配分析功能
掃描型X射線熒光光譜儀 XRF-1800型從儀器的硬件與軟件在許多細節都進行了改進，使得儀器的可靠性與可操作性更進一步提高，增加了世界的250μm微區分布成像分析功能，從而達到更高水平的程度。作為高靈敏度和微區分析的，島津公司非常自信地向用戶奉獻出的XRF-1800型X射線熒光光譜儀。
· 在波長色散型裝置中，世界250μm微區分布成像分析功能（已取得）
稀土元素礦石的XRF-1800成像分析實例· 利用高次譜線進行準確的定性/定量分析（申請中）
利用XRF-1800的高次譜線分析剎車片實例· 測定高分子薄膜的膜厚與無機成分分析的背景基本參數(BG-FP)法
使用XRF-1800進行的膜厚測定、薄膜測定實例
獨自開發的特殊形狀的滑動式視野限制光欄，利用r方向滑動與樣品旋轉控制的q轉動，可以在30mm直徑內的任意位置進行分析。
在測定室導入樣品的位置上，將樣品容器按照與測定位置相同的方式放置，通過CCD攝取樣品的圖像，可使測定位置與圖像相吻合。
（申請中）
配備平均壽命在5年以上的高可靠性Ｘ射線管。與傳統的3kWＸ射線管相比，輕元素的分析靈敏度提高2倍以上。
對應于液體、粉末、固體、金屬、氧化物等不同形態的樣品具有相應的分析條件，在這基礎上可編制的分析條件。可根據不同材質
判定、品種分類、品種判定、一致性檢索這4種匹配功能進行判定、檢索。
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