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紫外可見分光光譜儀GEM-3000

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GEM-3000珠寶檢測儀是一套基于反射測量的全波長光譜分析儀,可快速準確地對珠寶真偽和是否染色進行鑒定

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GEM-3000珠寶檢測儀是一套基于反射測量的全波長光譜分析儀,可快速準確地對珠寶真偽和是否染色進行鑒定。其波長范圍從紫外到短波近紅外,能有效檢測數百種珠寶的光譜反射特征曲線。

GEM-3000珠寶檢測儀用途:用于對任意形狀和大小的珠寶樣品進行快速鑒定。

測量對象:   金珍珠、黑珍珠、紅珊瑚、鉆石(含CVD, HTHP, 輻照處理等類型)、翡翠、藍寶石、紅寶石、綠松石、綠柱石等珠寶玉石。


GEM-3000珠寶檢測儀.jpg

測試原理:

紫外-可見吸收光譜是在電磁輻射作用下,由寶石中原子、離子、分子的價電子和分子軌道上的電子在電子能級間的躍遷而產生的一種分子吸收光譜。具不同晶體結構的各種彩色寶石,其內所含的致色雜質離子對不同波長的入射光具有不同程度的選擇性吸收,由此構成測試基礎。

紫外可見分光光度計主要利用寶石在紫外至可見光范圍內的吸收光譜及吸光度分析,對寶石中某些成分進行定性或定量分析,目前主要用于顏色指數、致色機理、產地特征等方面的分析研究。常見有鉆石輻照處理的鑒別及合成藍寶石的鑒別等。


GEM-3000珠寶檢測儀能有效檢測數百種珠寶的反射光譜,1秒即可出全譜。可根據聲音提示快速判斷天然鉆石與合成鉆石,同時軟件有對應的PASS 與NG,大大提高檢測效率。最小可檢測1厘鉆石,可批量檢測裸石,也可檢測鑲嵌厘石成品。

天然鉆石圖譜.jpg

天然鉆石,聲音提示通過,顯示PASS


合成鉆石圖譜.jpg

合成鉆石,軟件自動判斷,顯示NG


GEM-3000珠寶檢測儀特點:

體積小,測量速度快,毫秒級

重現性高,任何時候對同一樣品測試都可以保證的重現性

采用積分球和探頭采光

操作簡單,樣品放置無需做任何調節

抗干擾強,外界光線對測量影響極小

開放式珠寶數據庫


GEM-3000珠寶檢測儀-技術參數:

型號

GEM-3000(II型)

GEM-3000(III型)

檢測范圍

225-1100nm

225-1000nm

信噪比(全信號)

4501

10001

單次測量時間

<100ms

穩定性

>99%

樣品前處理

樣品損壞

測量采樣方式

積分球和反射探頭

數據庫

開放式珠寶數據庫,用戶可自行管理

樣品尺寸

可直接檢測任意形狀的小樣品(<200mm大件樣品(>200mm)可加探頭進行檢測

信號接口

USB2.0

操作系統

Windows XP/Vista/Windows7

產品尺寸

350mm*150mm*160mm

產品重量

8Kg

電源及功率

220V-50HZ /250W


GEM-3000珠寶檢測儀-技術參數:

型號

GEM-3000(II型)

GEM-3000(III型)

檢測范圍

225-1100nm

225-1000nm

信噪比(全信號)

4501

10001

單次測量時間

<100ms

穩定性

>99%

樣品前處理

樣品損壞

測量采樣方式

積分球和反射探頭

數據庫

開放式珠寶數據庫,用戶可自行管理

樣品尺寸

可直接檢測任意形狀的小樣品(<200mm大件樣品(>200mm)可加探頭進行檢測

信號接口

USB2.0

操作系統

Windows XP/Vista/Windows7

產品尺寸

350mm*150mm*160mm

產品重量

8Kg

電源及功率

220V-50HZ /250W



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