冷熱臺可與同步輻射X射線散射、傅里葉紅外光譜儀、偏光顯微鏡聯用,用于表針不同溫度下樣品的結構檢測。冷熱臺溫控范圍為-190℃~350℃ ,可滿足諸多用戶的應用需求。
產品詳情
一、裝置簡介
冷熱臺可與同步輻射X射線散射、傅里葉紅外光譜儀、偏光顯微鏡聯用,用于表針不同
溫度下樣品的結構檢測。冷熱臺溫控范圍為-190℃~350 ℃ ,可滿足諸多用戶的應
用需求。
二、主要技術參數
產品型號 | FHS-350 |
溫度范圍 | -190~350℃ |
溫控精度 | ±0.1℃ |
升降溫度速率 | ≤50℃/min |
加熱方式 | 電加熱 |
制冷方式 | 無壓液氮 |
最小物鏡/聚光鏡工作距離 | 6/16mm |
聯用儀器 | 光學顯微鏡、同步輻射X射線 |
熱臺尺寸 | 120*80*20mm |
三、裝置應用領域
應用領域 | |
X射線衍射 | 納米光學 |
液晶和高分子 | 材料科學 |
醫藥 | 食品科學 |
四、應用案例
冷熱臺與寬角X射線聯用
五、產品展示
六、利用冷熱臺發表的論文
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